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离子研磨仪 IM4000II
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面议超高分辨场发射扫描电子显微镜 SU8600系列
面议光化学反应量热仪选配项 紫外线照射装置 PDC-7/PDC-7X 液体流量计
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面议超高分辨肖特基场发射扫描电镜 SU7000
面议基于设计数据的计量系统
面议高解析度FEB测量装置CS4800(CD-SEM)
面议高解析度FEB测量装置CG6300(HITACHI CD-SEM)
面议高分辨率FEB测长仪器 CG5000 (HITACHI CD-SEM)
面议半导体蚀刻系统9000系列
面议新一代日立F-4600荧光分光光度计技术详细信息
日立*公司采用超级荧光技术,研制出了新一代荧光分光光度计F-4600,旨在满足您对高质量分析仪器的需要。
新一代日立F-4600荧光分光光度计技术特点:
取样容积
采用水平光束几何形状可使激发光束更多地照射到样品,提高检测灵敏度;10mm标准透明试管中试样减至0.6mL。日立采用其*的水平光束几何形状不 仅提高了检测灵敏度,同时减少了10mm标准透明试管所需试样提取量。采用水平光束几何形状可使更多的光线照射到试样,提高了发射和系统灵敏度。另 外,10mm标准透明试管只需0.6mL试样,对于少量样品的检测具有重要意义。
自动预扫描功能
预扫描功能可自动转 换激发波长,确保发射荧光的可靠性并消除错误选择散射频带的可能性。可靠性发射荧光峰不会随激发波长的改变而改变。确保您可为未知样品自动而快速地选择激发和发射波长。这种*的预扫描方法通过自动转换所选择的激发波长并监控相应而生的发射峰之强度和波长,从而消除荧光带产生的错误散射光。
技术指标:
項目 | 内容 |
灵敏度 | 信噪比≥800(RMS) |
采用拉曼水带,激发波长为 350 nm,带宽10 nm,响应时间2s | |
zui少样品量 | 0.6 mL(使用10 mm标准方形透明试管) |
检测波长范围 | 200至900 nm且为零阶光(激发及发射) |
带宽 | Excitation side: 1, 2.5, 5, 10 nm 激发端:1、2.5、5、10 nm |
Emission side: 1, 2.5, 5, 10, 20 nm 发射端:1、2.5、5、10、20 nm | |
波长扫描速度 | 30、60、240、1,200、2,400、12,000、30,000 nm/min |
外形尺寸/重量 | 620(W) × 520(D) × 300(H)mm/重约41 kg |
功耗 | AC100, 115, 220, 230, 240 V 50/60 Hz 380 VA |
荧光解决方案程序 | 标准软件 |