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所在地
离子研磨仪 IM4000II
面议超高分辨肖特基场发射扫描电子显微镜SU8700
面议多功能扫描探针显微镜AFM100 Plus /AFM100 系统
面议超高分辨场发射扫描电子显微镜 SU8600系列
面议光化学反应量热仪选配项 紫外线照射装置 PDC-7/PDC-7X 液体流量计
面议纳米尺度3D光学干涉测量系统 VS1800
面议超高分辨肖特基场发射扫描电镜 SU7000
面议高性能FIB-SEM系统 Ethos NX5000
面议日立样品检查自动化系统 LABOSPECT TS
面议* 日立LABOSPECT 008 AS
面议* 日立LABOSPECT 006
面议和光通用试剂
面议20纳米世代后的装置对精度和工艺要求非常高,如双重图案和3D构造,以及针对新材料相对应的高精密度复杂制程要求,包含后道处理和形成保护膜等。为了对应这类下一代器件工艺,半导体蚀刻装置9000系列统一了接口并且能够搭载高精度模块化的各种腔室,从而实现了对应器件的扩展性和柔软性的工艺。
应用晶圆直径 | 300mm |
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装置构成 | 9 chambers (max.) |