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所在地
离子研磨仪 IM4000II
面议多功能扫描探针显微镜AFM100 Plus /AFM100 系统
面议光化学反应量热仪选配项 紫外线照射装置 PDC-7/PDC-7X 液体流量计
面议纳米尺度3D光学干涉测量系统 VS1800
面议基于设计数据的计量系统
面议高解析度FEB测量装置CS4800(CD-SEM)
面议高解析度FEB测量装置CG6300(HITACHI CD-SEM)
面议高分辨率FEB测长仪器 CG5000 (HITACHI CD-SEM)
面议半导体蚀刻系统9000系列
面议高性能FIB-SEM系统 Ethos NX5000
面议日立样品检查自动化系统 LABOSPECT TS
面议* 日立LABOSPECT 008 AS
面议
随着快速数据采集和数据处理技术的发展,电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量,而且注重其采集过程的时代。SU8700作为一款面向新时代的SEM,在日立电镜贯有的高图像质量和高稳定性的基础上,增加了包括自动获取数据等高通量的功能。
日立的高亮度肖特基场发射电子枪可同时支持超高分辨观察和快速微束分析。在不使用样品台减速的情况下,仅用0.1 kV的低加速电压仍可进行高分辨观察,适应更多应用场景。同时,可搭配多种新型探测器和其他丰富的选配项,满足更多的观测需求。
EM Flow Creator 允许客户创建连续图像采集的自动化工作流程。EM Flow Creator将不同的SEM功能定义为图形化的模块,如设置放大倍率、移动样品位置、调节焦距和明暗对比度等。用户可以通过简单的鼠标拖拽,将这些模块按逻辑顺序组成一个工作程序。经过调试和确认后,该程序便可以在每次调用时自动获得高质量、重现性好的图像数据。
原生支持双显示器,提供灵活、高效的操作空间。
6通道同时显示与保存,实现快速的多信号观测与采集,带来更多信息。
单次扫描支持 40,960×30,720 的超高像素*
左图是视野约为120 μm,单次扫描采集的大鼠超薄切片样品高像素图像。将黄色矩形区域图像进行简单的数字放大,得到右图。右图相当于左图数字放大20倍,依然可以清晰确认到神经细胞的细胞器等的内部构造
SU8600和SU8700单次扫描像素可达 40,960 x 30,720.*
*选配
电子光学系统 | 二次电子分辨率 | 0.8 nm@15 kV |
---|---|---|
0.9 nm@1 kV | ||
放大倍率 | 20 ~ 2,000,000 x | |
电子枪 | 肖特基场发射电子源 | |
加速电压 | 0.1 ~ 30 kV | |
着陆电压*1,*3 | 0.01 ~ 7 kV | |
束流 | 200 nA | |
探测器 | 标配探测器 | 上探测器(UD) |
下探测器(LD) | ||
选配探测器*3 | 镜筒内背散射电子探测器(MD) | |
半导体式背散射电子探测器(PD-BSE) | ||
高灵敏低真空探测器(UVD) | ||
扫描透射探测器(STEM) | ||
选配附件*2 | X射线能谱仪(EDS) | |
电子背散射衍射探测器(EBSD) | ||
样品台 | 马达驱动轴 | 5轴马达驱动 |
移动范围 | ||
X | 0 ~ 110 mm | |
Y | 0 ~ 110 mm | |
Z | 1.5 ~ 40 mm | |
T | -5 ~ 70° | |
R | 360° | |
样品室 | 样品尺寸 | 直径:150 mm*4 |
低真空模式 | 真空范围 | 5 ~ 300 Pa |