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离子研磨仪 IM4000II
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超高分辨肖特基场发射扫描电子显微镜SU8700
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超高分辨场发射扫描电子显微镜 SU8600系列
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光化学反应量热仪选配项 紫外线照射装置 PDC-7/PDC-7X 液体流量计
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纳米尺度3D光学干涉测量系统 VS1800
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超高分辨肖特基场发射扫描电镜 SU7000
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基于设计数据的计量系统
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高解析度FEB测量装置CS4800（CD-SEM）
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高解析度FEB测量装置CG6300（HITACHI CD-SEM）
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高分辨率FEB测长仪器 CG5000 (HITACHI CD-SEM)
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半导体蚀刻系统9000系列
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高性能FIB-SEM系统 Ethos NX5000
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AFM100 Plus /AFM100系统是以在研发、生产、教育等各种场合普及AFM应用为目的， 并追求操作性、可靠性及高效率观察的通用型高分辨扫描探针显微镜系统。
介绍扫描探针显微镜的应用数据。
解说扫描式隧道显微镜（STM）和原子力显微镜（AFM)等的原理和各种状态原理。
描述我们的扫描探针显微镜和我们的设备的历史和发展。(Global site)
