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所在地
离子研磨仪 IM4000II
面议超高分辨肖特基场发射扫描电子显微镜SU8700
面议超高分辨场发射扫描电子显微镜 SU8600系列
面议光化学反应量热仪选配项 紫外线照射装置 PDC-7/PDC-7X 液体流量计
面议纳米尺度3D光学干涉测量系统 VS1800
面议超高分辨肖特基场发射扫描电镜 SU7000
面议基于设计数据的计量系统
面议高解析度FEB测量装置CS4800(CD-SEM)
面议高解析度FEB测量装置CG6300(HITACHI CD-SEM)
面议高分辨率FEB测长仪器 CG5000 (HITACHI CD-SEM)
面议半导体蚀刻系统9000系列
面议高性能FIB-SEM系统 Ethos NX5000
面议AFM5300E是一款环境型原子力显微镜,它的环境控制单元可以使样品在大气中、真空中、溶液中等环境中进行测量。AFM5300E还具有高低温控制功能,可以检测温度对样品表面形貌和物理特性的影响。
AFM5300E能够实现高真空的测试环境,大限度减小样品表面吸附水对测试的影响,实现精确的物理特性测量。 真空环境下可以实现更大范围的温度控制。
(3857581号、3926638号)
●大气中 ●液体中 ●真空中 ●特殊气氛(流量控制)
●温度控制 加热・冷却(-120~300℃) 高温(室温~800℃)
●湿度控制(0~80%)
通过采用『综合型Holder Flange开合功能』,样品和扫描器更換更为方便的同时,免去了以往环境型SPM的样品更換后的所需的光轴调整。 也省去测试模式切换时的支架更換环节。
采用了『Swing Cancel功能』,减轻了样品的浮动,降低了漂移。提高了纳米分析性能,提升了可信度。
真空环境下减轻样品表面吸附的水分和污染物的影响,因而实现高分辨高灵敏的电学性能分析。
分辨率 | 原子相 |
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样品尺寸 | 20 mmφ、厚度10 mm (用配件厚度扩展至20 mm) |
样品移动范围 | X-Y stage 5 mm |
扫描范围 | 标准: 20 µm□/1.5 µmH • 150 µm□/5 µmH • 15 µm□/1.5 µmH(闭环差控制) 定位显微镜 • 简易显微镜(×200倍) • 光学显微镜(×1000倍) • 变焦显微镜(×700倍) • 金相显微镜(装有微分干渉)(×2000倍) |
检测功能 |
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选配件 | 高温加热样品台 加热冷却兼用样品台 冷却真空 温度控制 |
介绍扫描探针显微镜的应用数据。
解说扫描式隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)等的原理和各种状态原理。
描述我们的扫描探针显微镜和我们的设备的历史和发展。(Global site)