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所在地
离子研磨仪 IM4000II
面议超高分辨肖特基场发射扫描电子显微镜SU8700
面议超高分辨场发射扫描电子显微镜 SU8600系列
面议光化学反应量热仪选配项 紫外线照射装置 PDC-7/PDC-7X 液体流量计
面议纳米尺度3D光学干涉测量系统 VS1800
面议超高分辨肖特基场发射扫描电镜 SU7000
面议基于设计数据的计量系统
面议高解析度FEB测量装置CS4800(CD-SEM)
面议高解析度FEB测量装置CG6300(HITACHI CD-SEM)
面议高分辨率FEB测长仪器 CG5000 (HITACHI CD-SEM)
面议半导体蚀刻系统9000系列
面议高性能FIB-SEM系统 Ethos NX5000
面议AFM5000Ⅱ工作站采用全新的图标用户界面,标准配备参数自动设置功能(RealTune® II),即使是刚刚接触SPM的初学者或者遇到全新的样品时,也能快速获得准确的测量数据。
【实例1】纤维状的碳纳米管结构体(壁虎胶带)
【样品提供:日东电工股份公司】
以往的方法这些样品需要对参数进行精细的调整,操作难度很高,并且柔软的纤维易变形产生皱痕。
自动设置成合适的条件,可在复杂的纤维结构不变形的情况下进行精准测量。
【实例2】用于有机薄膜晶体管的多结晶薄膜(并五苯多结晶薄膜)
【样品提供:神户大学北村研究室】
以往的方法这种样品,表面容易损坏,易产生皱痕、台阶的轮廓也不明显。
自动设置成合适的条件,稳定地测量分子级别上的台阶结构。
能够将样品形貌及物理特性叠加显示,并能构画出3D画面,可以通过视觉感受表示样品的物理特性。
配备凹凸分析、剖面轮廓分析等多样的分析功能。
轻便的小型化外形,适合各种场地摆放。
220 mm(W)×500 mm(D)×385 mm(H)、約15 kg
OS | Windows®7 |
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连接机型 | AFM5100N、AFM5300E |
RealTuneII | 悬臂振幅、接触力、扫描速度、自动设置反馈增益 (Auto、Fast、Soft、Rough、Flat、Point) |
操作画面 | 导航功能、多图显示功能(测量/分析)、3D叠加功能、扫描范围/测量记录显示功能、数据分析批量处理功能、探针评估功能 |
X,Y,Z扫描电压 | XY(±200V/18bit) Z(±200V/26bit) |
多画面测量 | 4画面(大2048×2048) 2画面(大4096×4096) |
长方形扫描 | 1:1, 2:1, 4:1, 8:1, 16:1, 32:1, 64:1, 128:1, 256:1, 512:1, 1024:1 |
分析软件 | 3D显示功能、凹凸分析、剖面分析、平均剖面分析 |
尺寸、重量 | 220 mm(W)×500 mm(D)×385 mm(H)、约15 kg |
电源 | AC 100V~240V±10%、单相 |
介绍扫描探针显微镜的应用数据。
解说扫描式隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)等的原理和各种状态原理。
描述我们的扫描探针显微镜和我们的设备的历史和发展。(Global site)