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所在地
离子研磨仪 IM4000II
面议超高分辨肖特基场发射扫描电子显微镜SU8700
面议多功能扫描探针显微镜AFM100 Plus /AFM100 系统
面议超高分辨场发射扫描电子显微镜 SU8600系列
面议光化学反应量热仪选配项 紫外线照射装置 PDC-7/PDC-7X 液体流量计
面议纳米尺度3D光学干涉测量系统 VS1800
面议超高分辨肖特基场发射扫描电镜 SU7000
面议基于设计数据的计量系统
面议高解析度FEB测量装置CS4800(CD-SEM)
面议高解析度FEB测量装置CG6300(HITACHI CD-SEM)
面议高分辨率FEB测长仪器 CG5000 (HITACHI CD-SEM)
面议半导体蚀刻系统9000系列
面议紫外/可见/近红外分光光度计UH5700支持从紫外区到近红外区的广范围波长区域的固体,液体样品测定。它采用全新的数据处理软件,操作起来更加简便。
采用Czerny-Turner高光量单色器和新研发的光栅,实现了同级别设备的低杂散光/超大测光范围*1。
采用连续可变狭缝,在近红外波长区测定低光量时,自动加宽狭缝;测定高光量时,自动减小狭缝宽度。支持低噪音测定超大范围波长区域。
新数据处理软件在深受用户好评的UV Solutions上作了进一步的技术升级。新增了数据表和数据处理结果的列表显示功能、报告格式的自定义功能、仪器性能检查功能。
各种配件,满足分光光度计的多种测定需求,如溶液中微量样品的测定和片状样品、薄膜样品等材料样品的测定等。
项目 | 内容 |
---|---|
光学系统 | Czerny-Turner单色器 双光束 |
波长范围 | 190~3300 nm |
标准软件的新功能 | 数据列表显示功能: 能够以列表形式显示多个样品的波长数据、面积计算结果、半峰宽计算结果,多个样品的数据对比一目了然。 |
报告格式的自定义功能 可定义分析条件、数据处理结果、光谱等的格式,生成个性报告。 | |
标配性能检查功能 标配波长准确度、噪音水平、基线稳定性等的性能检查功能。无需安装选配软件,即可对UH5700进行日常管理。 |
UH5700使用玻璃滤光片附件按照JIS R3106规定的计算公式,计算出可见光透过率(波长380~780 nm)和太阳光反射率(波长300~2500 nm)。
仪器配置:
UH5700紫外分光光度计
玻璃滤光片附件(PN :210-2109)
计算公式:参照JIS R3106
操作软件:UV solutions Plus
三种玻璃的透射光谱
可见光透过率及太阳光透过率的计算结果
UH5700紫外分光光度计加装φ60积分球附件,根据JIS K 5675测定了3个不同的涂料样品的反射率,依据JIS K 5675,计算出太阳光反射率并判断样品特性。
仪器配置:
UH5700紫外分光光度计
Φ60积分球附件 (P/N :2J3-0171)
操作软件:UV Solutions Plus
涂料的反射光谱
太阳光反射率的计算结果
介绍分光光度计(UV-Vis/NIR)的测量实例。
介绍分光光度计的基础知识,包括从「紫外/可见分光光度计能做什么?」到「分光光度计的结构」。
介绍以科技领域者为目标的日立*科学集团的象征标志。