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所在地
离子研磨仪 IM4000II
面议超高分辨肖特基场发射扫描电子显微镜SU8700
面议多功能扫描探针显微镜AFM100 Plus /AFM100 系统
面议超高分辨场发射扫描电子显微镜 SU8600系列
面议光化学反应量热仪选配项 紫外线照射装置 PDC-7/PDC-7X 液体流量计
面议纳米尺度3D光学干涉测量系统 VS1800
面议超高分辨肖特基场发射扫描电镜 SU7000
面议基于设计数据的计量系统
面议高解析度FEB测量装置CS4800(CD-SEM)
面议高解析度FEB测量装置CG6300(HITACHI CD-SEM)
面议高分辨率FEB测长仪器 CG5000 (HITACHI CD-SEM)
面议半导体蚀刻系统9000系列
面议UH5300可采用平板终端操作,操作便捷,用户界面直观,不用说明书手册也可操作。标配自动6池塔轮附件,大大提高工作效率,是日立推出的高性能分光光度计之一。
基线稳定性比较 单光束系统(上图)
光束系统(下图:UH5300)
控制软件的设计强调简便直观的操作性,为不熟悉分光光度计的人提供浅显易懂的测量流程。
介绍分光光度计(UV-Vis/NIR)的测量实例。
介绍分光光度计的基础知识,包括从「紫外/可见分光光度计能做什么?」到「分光光度计的结构」。
介绍以科技领域者为目标的日立*科学集团的象征标志。