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日本理学全反射 X 射线荧光光谱仪TXRF 3760-华普通用
面议日本理学连续波长色散X射线荧光光谱仪ZSX Primus 400-华普通用
面议日本理学全反射 X 射线荧光光谱仪TXRF-V310-华普通用
面议日本理学MiniFlex 600 台式X射线衍射仪-华普通用
面议日本理学波长色散X射线荧光光谱仪WDA 3650-华普通用
面议日本理学SmartLab带制导软件的自动多用途X射线衍射仪(XRD)
面议日本理学同步热分析仪DSC8231-华普通用
面议日本理学差示扫描量热仪DSC8231-华普通用
面议德国蔡司FIB双束扫描电镜Crossbeam 350-华普通用
面议德国蔡司FIB双束扫描电镜Crossbeam 550-华普通用
面议PVC环/压样环/X射线荧光光谱仪压片机专用塑料环-华普通用
面议德国蔡司多束扫描电子显微镜MultiSEM系列-华普通用
面议在过去的25年里,ZEISS PRISMO在业界堪称高速扫描和测量实验室至高精度的代名词。ZEISS PRISMO是精准测量的参考,它符合ISO质量标准。在精度决定一切的世界中,我们不能在精度上妥协,这是很重要的。ZEISS PRISMO采用工业陶瓷材质的横梁和Z轴拥有轻质化的结构和优秀的抗扭强度,不受温度影响的玻璃陶瓷光栅尺技术,所有轴向均采用蔡司四面环抱轴承技术。
蔡司PRISMO系列的高速度和灵活性
PRISMO亦适用于贴近于生产区域的在线测量,有效避免往返实验室的周折,得益于蔡司对于关键组件的多年研发经验及结合。
蔡司VAST Navigator技术
借助蔡司CALYPSO VAST probing,可以在保证足够精确的情况下显著降低单点测量的时间,从而使测量时间减少高达25%。
蔡司CALYPSO VAST Probing
蔡司VAST gold的测针是蔡司PRISMO系列的补充。凭借其连续的可变角度位置,它非常适用于测量那些应用程序需要不同测针方向的任务。蔡司REACH技术将灵活性与蔡司VAST gold的性能特征相结合。
蔡司REACH技术
通过托盘系统改变测量策略,从“一次一个探头”的传统方法到“逐个特性,一次性完整托盘”的方法,这大大缩短了测量时间,从而提高了效率并节省了成本。
它是蔡司三坐标测量机的明星产品,也是精准测量的标准。计算机辅助精度(CAA)可校正机器上的所有动态影响,即使在高速扫描期间也能优化精度。蔡司PRISMO可用于进行要求公差为1微米或更小的测量任务。
通过使用ZERODUR®量程和*的CAA校正,蔡司PRISMO verity所提供的结果的不确定性可低至 蔡司PRISMO verity可用于温度控制的测量室,它符合德国VDI / VDE 2627“3级”标准。空调室的温度保持在19°至22°C之间,适合所有测量任务。凭借改进的表格测量值,蔡司PRISMO verity是同类产品中的优质机器。
蔡司PRISMO ultra
蔡司PRISMO ultra测量误差仅为 微米,它进一步提高了蔡司PRISMO的精度。通过更为精准的量程,优化的气浮轴承设计,额外的CAA校正,气浮减振技术和所有组件更为严格的适配获得优异的测量精度。蔡司PRISMO ultra适用于需要实现高度精度的任务,例如研究、开发、质量保证以及仪表或测试样品的校准。