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日本理学同步热分析仪DSC8231-华普通用
面议日本理学差示扫描量热仪DSC8231-华普通用
面议德国蔡司FIB双束扫描电镜Crossbeam 350-华普通用
面议德国蔡司FIB双束扫描电镜Crossbeam 550-华普通用
面议PVC环/压样环/X射线荧光光谱仪压片机专用塑料环-华普通用
面议德国蔡司多束扫描电子显微镜MultiSEM系列-华普通用
面议福禄克Raytek® Compact MI3 红外测温探头/高温计-华普通用
面议BUCHI Pure 制备色谱系统-华普通用
面议Chroma Model3650 SoC测试系统-华普通用
面议福禄克ThermoView TV40 工业固定式热成像系统-华普通用
面议福禄克Raytek® MP150 高速线扫描红外测温仪-华普通用
面议福禄克Raynger 3i Plus手持式红外测温仪-华普通用
面议
Rigaku 的 ZSX Primus 400 连续波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 光谱仪专为处理非常大或重的样品而设计。该系统可接受直径为 400 毫米、厚度为 50 毫米和质量为 30 千克的样品,非常适合分析溅射靶材、磁盘,或用于多层薄膜计量或大型样品的元素分析。
优点
带有定制样品适配器系统的 XRF,适应特定样品分析需求的多功能性,可使用可选适配器插件适应各种样品尺寸和形状。凭借可变测量点(直径 30 毫米至 0.5 毫米,具有 5 步自动选择)和具有多点测量的映射功能以检查样品均匀性。
具有可用相机和特殊照明的 XRF,可选的实时摄像头允许在软件中查看分析区域。
仍保留了传统仪器的所有分析能力。
安全性
采用上照射设计,样品室可简单移出,再不用担心污染光路,清理麻烦和增加清理时间等问题。
大样本分析: 400 毫米(直径), 50 毫米(厚度),高达 30 千克(质量)
样品适配器系统,适用于各种样本量
测量点:30 毫米至 0.5 毫米直径,5步自动选择
映射能力,允许多点测量
样品视图相机(可选)
分析范围:Be - U
元素范围:ppm 至 %
厚度范围:sub Å 至 mm
衍射干扰抑制(可选):单晶衬底的准确结果
符合行业标准:SEMI、CE标志
占地面积小,以前型号的 50% 占地面积