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日本理学全反射 X 射线荧光光谱仪TXRF 3760-华普通用
面议日本理学连续波长色散X射线荧光光谱仪ZSX Primus 400-华普通用
面议日本理学全反射 X 射线荧光光谱仪TXRF-V310-华普通用
面议日本理学MiniFlex 600 台式X射线衍射仪-华普通用
面议日本理学波长色散X射线荧光光谱仪WDA 3650-华普通用
面议日本理学SmartLab带制导软件的自动多用途X射线衍射仪(XRD)
面议德国蔡司FIB双束扫描电镜Crossbeam 350-华普通用
面议德国蔡司FIB双束扫描电镜Crossbeam 550-华普通用
面议PVC环/压样环/X射线荧光光谱仪压片机专用塑料环-华普通用
面议德国蔡司多束扫描电子显微镜MultiSEM系列-华普通用
面议日本理学Simultix 15波长色散X射线荧光光谱仪
面议日本岛津AGS-X系列电子试验机-华普通用
面议产品概述
雷泰MP150红外行扫描仪是专为使用在高要求的工业环境中使用,并可以测得运动物体的准确温度图像。这种多点测量由一个旋转的光学系统来实现的,它可以在90°视野范围内,在一条直线上收集高达1024点的红外辐射结果。
一个内部高速微处理器计算每一行数据的各个测量点的温度。MP150系统包括空气或水冷系统,三个独立可配置的模拟输出,以及双向数字通信。该行扫描仪还具有内置以太网TCP/IP通信能力和内置的直线激光来实现快速对齐。
还具备其他可选的模拟或数字输出模块。MP150过程成像仪系统可以选择不同的温度和光谱范围。有关详细的信息,请查阅产品手册和数据表。
雷泰DataTemp®DP
MP150系统可以在独立模式中使用,连接到单台的PC或集成到一个综合的过程控制系统中,使用Datatemp® DP、一个Windows®工业软件包,提供过程中的实时监控成像和远程配置功能。利用该datatemp DP软件的OPC服务器功能,扫描仪成为任何OPC兼容分布式控制的接口(DCI)或人机界面(HMI)系统的一个组成部分。在所有情况下,MP150提供了实时监测和控制能力。