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面议借助 MultiSEM 显微镜,您可以充分运用 91 条并行电子束的采集速度。现如今,您能够以纳米分辨率对厘米级样品成像。这款出色的扫描电子显微镜(SEM)专为 7 x 24 小时的连续、可靠运行而设计。只需简单设置高性能数据采集流程,MultiSEM 便能够独立地自动完成高衬度图像采集。
使用成熟的 ZEN 成像软件控制 MultiSEM:您可以直观灵活地管理这款高性能扫描电子显微镜的所有功能选项。
91 条电子束同时工作,拥有出色的成像速度。
在几分钟内对1 mm²的区域成像,分辨率高达 4 nm。
借助经优化的二次电子探测器,以低信噪比采集高衬度图像。
MultiSEM 配备有一个可容纳 10 cm x 10 cm 大小样品的样品夹。
对整个样品成像并发现所有细节,助力于科研。
自动采集方案可实现大面积成像 - 您将获得精细的纳米图像,且不丢失可见信息。
使用成熟的ZEN软件简便直观地操控 MultiSEM,该软件被应用于所有蔡司成像系统
智能化自动调节程序能够帮助您以高分辨率和高衬度捕获图像
根据样品的实际情况,快速轻松地创建复杂的自动采集流程
MultiSEM的ZEN 软件可高速进行连续并行成像
开放的API软件接口可提供灵活快速的应用开发
MultiSEM 同时运用了多条电子束(绿色:照明通路)和多个探测器。微调探测通路能够收集大量的二次电子(SE)用于成像。与分光镜组合使用,可让二次电子信号到达(红色:探测通路)多探测器阵列。每条电子束在样品的一个位置执行同步扫描程序,以此获得单个拼片图像。电子束呈六边形排列。通过合并所有图像拼片生成整幅图像。
并行计算机设置程序用于快速记录数据,确保整体高成像速度。图像采集和工作流程控制在 MultiSEM 显微镜中独立。