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日本理学全反射 X 射线荧光光谱仪TXRF 3760-华普通用
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面议日本理学全反射 X 射线荧光光谱仪TXRF-V310-华普通用
面议日本理学MiniFlex 600 台式X射线衍射仪-华普通用
面议日本理学波长色散X射线荧光光谱仪WDA 3650-华普通用
面议日本理学SmartLab带制导软件的自动多用途X射线衍射仪(XRD)
面议德国蔡司FIB双束扫描电镜Crossbeam 350-华普通用
面议德国蔡司FIB双束扫描电镜Crossbeam 550-华普通用
面议PVC环/压样环/X射线荧光光谱仪压片机专用塑料环-华普通用
面议德国蔡司多束扫描电子显微镜MultiSEM系列-华普通用
面议日本理学Simultix 15波长色散X射线荧光光谱仪
面议日本岛津AGS-X系列电子试验机-华普通用
面议差示扫描量热法(DSC)量化熔化、转变、结晶和玻璃化转变温度等反应中的能量变化,主要用于研发;以及聚合物、制药领域的质量控制。
理学的DSC差示扫描量热仪是热通量类型。根据温度和灵敏度差异,有几种型号可供选择。
高灵敏度 差示扫描量热仪DSC8231 型有多种可选选项,例如 LN₂ 冷却系统、根据测量目标的自动进样器。
高灵敏度、高性能、低噪音,通过紧凑型炉子实现
通过紧凑型炉实现快速气体替代
显著的加热和冷却速率,提高测量效率
强调整个系统的安全性
测量温度范围:-150°C 至 725°C( 750°C)
可选的冷却装置用于低于环境温度的情况
温度高于500°C时需要惰性气流
产品名称 | DSC8231 |
技术 | 差示扫描量热法 |
效益 | 表征和量化与相变相关的反应能量 |
科技 | DSC差示扫描量热仪是一种热分析技术,其中测量提高样品和参比温度所需的热量差异作为温度的函数。 |
核心属性 | 使用这种技术,可以观察熔融和结晶事件以及玻璃化转变温度,也可用于研究氧化以及其他化学反应。 |
计算机 | 外置电脑 |
核心尺寸 | 210(宽)x 310(高)x 520(深)(毫米) |
质量(核心单元) | 15.5 千克(30.5 千克,带智能装载机) |
电源要求 | 1Ø, AC100-120 V/200-240 V 50/60 Hz 5 A |