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美国博曼毛细管测厚仪BA-100-O-OPT机型采用业界前沿的多孔毛细管光学聚焦装置，有效缩小测量点斑点的同时，可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。
美国博曼毛细管测厚仪BA-100-O-OPT机型配备大面积的SDD（硅漂移探测器），有效拓展元素分析范围，适应zui严格的微区、超薄镀层，以及痕量元素分析需求。
优秀的测试性能、突出的微区测量能力， 美国博曼毛细管测厚仪BA-100-O-OPT机型是研究开发、质量管控的XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。
稳定的X射线管
微聚焦50瓦Mo靶射线管（其它靶材可选）; 小于100um的测量斑点
射线出射点预置于射线管Be窗正*
长寿命的射线管灯丝
*的预热和ISO温度适应程序
多孔毛细管聚焦光学结构
显著提高X射线信号强度
获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度
小于100um直径的测量斑点
经过验证，接近*的测量精度
型号 | BA100-P-MVE |
| BA100-O-OPT80 |
名称 | 变焦多准直器自动台 |
| 变焦毛细管自动台 |
外形图片 |
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X射线管靶材 | W |
| Mo |
X射线方向 | 从上往下 |
| 从上往下 |
Z轴控制 | 程控 |
| 程控 |
Z轴移动行程 | 140mm |
| 140mm |
XY轴控制 | 程控，可编程 |
| 程控，可编程 |
XY轴行程 | 254×254mm |
| 127×153mm |
聚焦激光 | 标准 |
| 标准 |
焦距 | 可变焦 |
| 可变焦 |
焦距规格 | 6.5~65mm |
| 6.5~65mm |
放大倍数 | 30X（可选50X） |
| 50X |
探测器 | 固态Si-Pin |
| SDD硅漂移 |
准直器 | 4个 |
| NA |
准直器规格 | 标准： Φ0.1、Φ0.2、 Φ0.3、Φ1.5mm 可选：
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| NA |
毛细管结构 | NA |
| 光斑Φ0.08mm |
样品台 | 开槽式 |
| 开槽式 载物台：宽350×深395mm |
工作台内部尺寸（宽×深×高） | 314×380×140mm |
| 314×380×140mm |
仪器外形尺寸（宽×深×高） | 560×610×280mm |
| 450×600×440mm |
重量 | 110KG |
| 52~70KG |
