X-Strata980 X荧光测厚仪（X荧光镀层测厚及ROHS分析仪）（Oxford Instrument）

X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率*，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择zui合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。

· 100瓦X射线管  

· 25mm2PIN 探测器 

· 多准直器配置 

· 扫描分析及元素分布成像功能 

· 灵活运用多种分析模型 

· 清晰显示样品合格/不合格 

· 超大样品舱 

· 同时分析元素含量和镀层厚度 

· 应用-RoHS/WEEE
-有害元素痕量分析
-焊料合金成分分析和镀层厚度测量
-电子产品中金和钯镀层的厚度测量
-五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量
-贵金属合金分析和牌号鉴定 

· X-Strata980 配有超大功率X射线光管和高灵敏度探测器，能够满足复杂样品和微小测试面积的检测需求。 

· 有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。该款仪器性能，能够分析包括多层复杂涂镀层、SAC合金、µPPF和太阳能电池板等复杂应用。
• 有害元素痕量分析
• 焊料合金成分分析和镀层厚度测量
• 电子产品中金和钯镀层的厚度测量
• 五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量
• 贵金属合金分析和牌号鉴定 

· 电制冷固态探测器确保的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率*，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。超大探测器灵敏窗口大幅提高了计数率——大多数的分析能在数秒或数分种内完成。灵活组合运用五个初级滤波器，使X光管激发效率达到*，
得到*的应用效果。仪器测量直径zui小可达到150微米。可供选择的准直器直径
有0.1、0.2、0.3和1.27毫米。特别设计的铝钛板在检测轻制样品时能大幅降低背景噪音，
从而达到更低的检测下限。对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测 

·    仪器在设定的检测程序中可通过扫描功能一次性快速分析大面积的区域。一旦识别出问题
区域，即可对特定小点进行定量分析。扫描分析及元素分布成像功能能够快速识别复杂组件中的含铅的零部件或连接件。该款仪器内置数码影像装置，能够精确显示样品摆放位置及测试点位置。样品扫描映射成像图中可对各种待测元素设置不同颜色，然后形成单种或多种元素的组成及含量分布图。 

· 根据不同应用，您可以选择不同的分析方法：经验系数法、基本参数法或两者结合。如果您
知道分析物的元素组成矩阵和含量范围，经验系数法是合金分类和元素含量分析的*检测
方法。当无法预知准确的元素组成或标准片不完备情况时，可选用基本参数法，通过仪器拥
有的完整光谱数据库，对基材和镀层进行可信的厚度测量和元素定量分析，测试范围可从ppm至%。 

·     自由距离测量及超大型样品舱数据统计功能强大，包括平均值、标准偏差、柱状图和管理图表。数据实时导出，可以保存为Excel格式，并快速生成分析报告。用户能设置快捷键，对样品进行一键校准。用户界面提供9种操作语言大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品。可在0.5” 至3.5”（12.7mm to 88.9mm）范围内自由调节聚焦距离，来实现对样品不同表面的测量。样品舱内部空间580mmx510mmx230mm。封闭样品舱设计能*防止辐射污染，特别针对塑料等轻质样品的检测过程而设计。大舱门使样品更易放入。 

·     自定义程序能通过自定义报告清晰显示样品测试是否合格或不合格，还可设置其他针对特定被测元素的报警程序。专业报告生成软件，可证明用户在检测消费品是否含有有害元素的过程中所采取的尽职措施。