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Croma系列超大行程全自动三坐标测量仪
面议日立 超高分辨场发射扫描电子显微镜Regulus系列
面议日立 超高分辨率场发射扫描电子显微镜 SU9000
面议日立 热场式场发射扫描电镜 SU5000
面议日立 超高分辨肖特基场发射扫描电镜 SU7000
面议日立 钨灯丝扫描电子显微镜 FlexSEM 1000 II
面议日立 高性能聚焦离子束系统 MI4050
面议日立 全自动型原子力显微镜 AFM5500M
面议日立 钨灯丝扫描电子显微镜 SU3800/SU3900
面议日立 通用型原子力显微镜 AFM5100N
面议日立 原子力显微镜工作站AFM5000II/RealTune® II
面议日立 台式扫描电镜 TM4000II/TM4000PlusII
面议产品介绍:
AFM5300E能够实现高真空的测试环境,限度减小样品表面吸附水对测试的影响,实现精确的物理特性测量。 真空环境下可以实现更大范围的温度控制。
(3857581号、3926638号)
●大气中 ●液体中 ●真空中 ●特殊气氛(流量控制)
●温度控制 加热・冷却(-120~300℃) 高温(室温~800℃)
●湿度控制(0~80%)
通过采用『综合型Holder Flange开合功能』,样品和扫描器更換更为方便的同时,免去了以往环境型SPM的样品更換后的所需的光轴调整。 也省去测试模式切换时的支架更換环节。
采用了『Swing Cancel功能』,减轻了样品的浮动,降低了漂移。提高了纳米分析性能,提升了可信度。
4. 通过减轻表面吸附水的影响,提高了电气性能的检测精度
真空环境下减轻样品表面吸附的水分和污染物的影响,因而实现高分辨高灵敏的电学性能分析。
产品规格:
分辨率 | 原子相 |
样品尺寸 | 20 mmφ、厚度10 mm (用配件厚度扩展至20 mm) |
样品移动范围 | X-Y stage 5 mm |
扫描范围 | 标准: 20 µm□/1.5 µmH |
150 µm□/5 µmH | |
15 µm□/1.5 µmH(闭环差控制)定位显微镜 | |
简易显微镜(×200倍) | |
光学显微镜(×1000倍) | |
变焦显微镜(×700倍) | |
金相显微镜(装有微分干渉)(×2000倍) | |
检测功能 | AFM(接触模式) |
DFM(轻敲模式) | |
PM(相位) | |
FFM(摩擦) | |
MFM(磁力) | |
SIS模式 | |
LM-FFM(横向摩擦) | |
VE-AFM/DFM(粘弹性) | |
Adhesion(吸附力) | |
CURRENT(电流) | |
SSRM(扩展抵抗) | |
SNDM(非线性介电常数) | |
PRM(压电响应)、KFM(表面电位) | |
液体中AFM/DFM | |
EC-AFM/STM | |
NanoIndentation(硬度) | |
Nano-TA(微区加热) | |
选配件 | 高温加热样品台 |
加热冷却兼用样品台 | |
冷却真空 | |
温度控制 |