品牌
经销商厂商性质
所在地
Radiation 全光谱椭偏仪
面议Radiation 全光谱反射仪
面议ZV SAW Machine-TS1261 (博磊切割机系列-TS1261)
面议KOSAKA 粗度测量仪器 | 校正用标准片 影像测量仪
面议KOSAKA 表面粗糙度仪 | 粗度仪
面议KOSAKA 表面粗度轮廓形状测定机 粗糙度仪
面议KOSAKA 粗糙度轮廓测定一体机 粗糙度仪
面议KOSAKA 表面粗度轮廓形状测定机 粗糙度仪
面议KOSAKA表面粗度轮廓形状测定机 粗糙度仪
面议KOSAKA 粗度仪 | 表面形状粗度测定机
面议KOSAKA 轮廓仪 | 轮廓形状测定机
面议KOSAKA 粗糙度仪 | 表面粗度测定机
面议Z分解能/测定范围 | 0.0075um/12mm 0.015um/24mm |
---|---|
Z检出方式 | 半导体雷射轴标 |
触针/测定力/针尖角度 | R2um/0.75mN/60° R25um/10mN/25° |
解析项目 | 形状解析(要素、方位向量、统计量、MASTER比较、公差判定) 表面粗度(JIS、ISO、DIN、ANSI、BS) 表面波纹(JIS) |
测定范围 | X:100mm |
直线度精度 | 0.4um/100mm |