光谱椭偏仪SE-VM型

光谱椭偏仪SE-VM型

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2020-01-26 10:00:00
3361
属性:
产地:国产;加工定制:是;
>
产品属性
产地
国产
加工定制
关闭
武汉颐光科技有限公司

武汉颐光科技有限公司

免费会员
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

光谱椭偏仪SE-VM型是一款科研级高精度快速测量光谱椭偏仪,可通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量,快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析,适用于薄膜材料的快速测量表征。高性价比光学椭偏测量解决方案紧凑集成设计,使用简便,一键快速测量向导交互式人机界面,便捷的软件操作体验丰富的材料数据库和算法模型库,强大的数据分

详细介绍

光谱椭偏仪SE-VM型

光谱椭偏仪SE-VM型概述 

 

是一款科研级高精度快速测量光谱椭偏仪,可通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量,快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析,适用于薄膜材料的快速测量表征。

——————————————————————————

  • 高性价比光学椭偏测量解决方案

  • 紧凑集成设计,使用简便,一键快速测量

  • 向导交互式人机界面,便捷的软件操作体验

  • 丰富的材料数据库和算法模型库,强大的数据分析能力

 

     产品特点 

  •  采用高强度卤素灯光源,光谱覆盖可见光到近红外范围;

    blob.png

 

  •  高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置,实现Psi/Delta光谱数据高速采集;

    blob.png

 

  • 支持多角度定制化设计,集成微光斑测量能力,可实现各式基底材料或各待测区域的角度择优测量;

blob.png

 

  • 数百种材料数据库、多种算法模型库,涵盖了目前绝大部分的光电材料;

    blob.png

 

  •  软件向导交互式人机界面操作,为用户提供优质的操作体验;

    blob.png

 

     产品应用 

    SE-VM  型光谱椭偏仪广泛应用于镀膜工艺控制、tooling校正等测量应用,实现光学薄膜、纳米结构的光学常数和几何特征尺寸快速的表征分析:

blob.png

技术参数:

blob.png

 

 

上一篇:日本HORIBA光谱椭偏仪UVISEL 2 下一篇:HORIBA光谱椭偏仪UVISEL 2原理介绍
热线电话 在线询价
提示

仪表网采购电话