SuperViewW1 中图仪器白光干涉仪设备

SuperView W1系列中图仪器白光干涉仪设备以高精度、高效率、高适配的核心优势，为精密制造、科研检测等领域提供一站式测量解决方案。如需获取产品演示视频、行业定制化方案或免费样品测试，欢迎随时联系。它以0.1nm级分辨率、8μm/s扫描速度、300+种标准参数，可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。

一、产品优势

1.超高精度，数据可追溯

基于白光干涉技术，形貌重复性低至0.1nm，粗糙度RMS重复性仅0.005nm，台阶测量准确度达0.3%。搭配0.1nm分辨率环境噪声评价与气浮隔振底座，即便在车间振动环境中，也能输出稳定可靠的数据，满足ISO/ASME等300余种国内外标准要求。

2.高效自动化，降本增效

W1-Ultra型号在0.1nm分辨率下扫描速度高达8μm/s，单区域、多区域测量一键启动，批量样品可通过编程预设流程实现自动化检测。某3C电子代工厂应用后，检测效率提升60%，日均处理样品量从300件增至480件，人力成本降低30%。

3.全场景适配，无需频繁换设备

单一扫描模式覆盖超光滑到粗糙、镜面到全透明/黑色材质，10mm Z向扫描范围搭配方形、圆形等多种自动拼接模式，支持数千张图像无缝拼接，轻松应对半导体研磨件、3C玻璃屏、光学元件等不同类型工件的测量需求。

4.自研软件，适配性更强

Xtremevision Pro第二代3D测量软件，可自动识别中图W/VT/WT系列机型，支持白光干涉与共聚焦模式自由切换，能直接测量微观平面轮廓的距离、角度等参数，搭配批量分析与多格式报表导出功能，适配质检存档与工艺优化全流程。

二、重点行业应用

1.半导体制造及封装：精准测量硅晶片研磨减薄后的表面粗糙度、光刻槽道形貌，某头部半导体企业应用后，工艺良率提升8%，检测数据与国际标准样块偏差＜0.1%。

2.3C电子：适配手机玻璃屏粗糙度检测、金属壳模具瑕疵识别、油墨屏高度差测量，批量检测无需重复调试，报表自动导出（Word/Excel/PDF），满足企业质检标准化需求。

3.光学加工：针对纳米台阶、光学元件表面粗糙度测量，实现916.5nm台阶高度精准量化，助力某光学厂商降低产品返工率12%。

4.汽车零部件与MEMS器件：检测精密齿轮磨损情况、轴承孔隙间隙，在复杂车间环境中保持数据稳定，某车企将零部件质检周期从1.5小时缩短至40分钟。

应用领域图片

三、核心功能精简

1.自动化测量：操纵杆集成XYZ轴控制、速度调节等功能，Mark点自动定位校正，批量样品测量无需人工值守。

2.数据处理与分析：内置去噪、滤波等四大处理模块，涵盖粗糙度、几何轮廓等五大分析功能，支持定制化模板批量分析。

3.安全与稳定：双重镜头防撞保护+光源无人值守自动熄灯设计，降低设备损耗；气浮隔振底座隔绝地面振动，确保测量精度。

4.灵活配置：标配10×干涉物镜（可选2.5×-100×），320×200mm载物台适配不同尺寸工件，满足多样化检测需求。

中图仪器白光干涉仪设备以亚纳米级测量精度、全场景适配能力与自动化高效操作，在精密制造、半导体、3C电子等领域一站式解决超精密测量精度不足、多材质适配难、批量检测效率低等测量难题。

（注：产品参数可能根据技术升级实时更新，具体以新配置为准，详情可咨询客服获取完整资料。）