SuperViewW1 中图仪器3D白光干涉仪微纳米形貌测量

中图仪器3D白光干涉仪微纳米形貌测量凭借0.1nm纵向分辨率的优势，成为超光滑样品3D形貌精准测量的核心装备，广泛适配超精密制造多行业核心检测场景，且与共聚焦显微镜形成互补，共同构建起覆盖全类型样品的专业显微测量产品线，满足企业多维度检测需求！

价格优势

1.以白光干涉仪为核心的3D形貌测量方案，兼具高性价比与全流程成本控制优势，且其与共聚焦显微镜组成的显微测量产品线，能为企业提供灵活的采购选择，从单台适配到组合采购，降低企业检测设备投入与使用成本！

2.白光干涉仪聚焦超光滑样品3D形貌测量，纵向0.1nm分辨率的精度无需搭配高倍率物镜即可实现，低倍下仍能保持纳米级测量能力，结合大图无缝拼接功能，大幅提升大面积样品3D形貌检测效率，减少人工成本；

3.设备为一站式3D形貌测量设计，可同步完成粗糙度、台阶高、轮廓尺寸等参数检测，一台替代多款专用纳米级检测设备，无隐形消费，标配核心部件无需额外采购。而显微测量产品线的组合采购模式更具成本优势，企业可根据检测需求，搭配选购白光干涉仪与共聚焦显微镜，享专属组合采购优惠，比单独采购两台设备更划算；

4.若企业有全场景检测需求，直接选购显微产品线中的WT3000二合一机型，可省去两台设备的采购投入，同时节省设备摆放的场地成本，且一次装夹完成全类型样品3D形貌测量，大幅降低人工操作与样品调试成本。

5.此外，整个产品线设备均为光学非接触式设计，核心部件耐用性强，后期维修保养成本低，批量采购还可享定制化报价，实实在在为企业节省全生命周期检测成本。

应用场景

1.光通信领域

白光干涉仪可对800G/1.6T光模块核心的微透镜阵列完成高保真3D形貌重构，精准捕捉曲率半径、矢高等关键参数，为光路耦合效率把控提供数据支撑；

2.半导体行业

针对晶圆减薄后的超光滑表面，能实现纳米级3D形貌测量，清晰还原表面微观几何特征，助力抛光工艺优化；3C电子领域，可对手机玻璃屏、透明光学配件做3D形貌检测，精准提取划痕、凹坑等瑕疵的三维尺寸；

3.光学加工领域

适配透明光学膜片、光学透镜等光滑器件的3D形貌重建，完整呈现表面平整度、曲率等形貌信息。

针对白光干涉仪难以覆盖的陡、糙、暗类样品，中图仪器显微产品线中的共聚焦显微镜可承接，其71.8°可测倾角能还原大陡壁复杂结构，弱光信号解析能力适配低反射率、粗糙表面的3D形貌测量，光伏行业太阳能电池板绒面金字塔结构、半导体划片工艺的激光镭射槽均能精准检测。同时产品线还推出WT3000白光干涉+共聚焦二合一机型，一次装夹即可完成光滑面与复杂结构的3D形貌全测量，真正实现超精密制造全场景检测覆盖。

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