SuperViewW1 白光干涉光学3D测量仪

以白光干涉光学3D测量仪为核心的3D形貌测量方案，兼具高性价比与全流程成本控制优势，且其与共聚焦显微镜组成的显微测量产品线，能为企业提供灵活的采购选择，从单台适配到组合采购，降低企业检测设备投入与使用成本！

1.白光干涉仪聚焦超光滑样品3D形貌测量，纵向0.1nm分辨率的精度无需搭配高倍率物镜即可实现，低倍下仍能保持纳米级测量能力，结合大图无缝拼接功能，大幅提升大面积样品3D形貌检测效率，减少人工成本；

2.设备为一站式3D形貌测量设计，可同步完成粗糙度、台阶高、轮廓尺寸等参数检测，一台替代多款专用纳米级检测设备，无隐形消费，标配核心部件无需额外采购。而显微测量产品线的组合采购模式更具成本优势，企业可根据检测需求，搭配选购白光干涉仪与共聚焦显微镜，享专属组合采购优惠，比单独采购两台设备更划算；

3.若企业有全场景检测需求，直接选购显微产品线中的WT3000二合一机型，可省去两台设备的采购投入，同时节省设备摆放的场地成本，且一次装夹完成全类型样品3D形貌测量，大幅降低人工操作与样品调试成本。

技术参数

白光干涉光学3D测量仪以硬核技术参数铸就超光滑样品3D形貌测量的纳米级精度，其与共聚焦显微镜组成的显微测量产品线，各展技术优势又形成协同，二合一机型更是实现技术融合，成为超精密制造3D形貌全维度测量的方案！

1.白光干涉仪

· 核心基于光的干涉定位原理，搭载白光LED光源，纵向分辨率高达0.1nm，且该精度不随物镜倍率衰减，低倍物镜下仍能保持纳米级3D形貌测量能力，是大面积超光滑样品检测的核心优势；

· 通过Z向逐层扫描与像素点光强拟合算法，精准锁定零级干涉条纹位置，将其转化为相对高度数据，实现样品3D形貌的高保真重构，可清晰还原Sa0.2nm级别超光滑表面的微观形貌特征，支持大图无缝拼接功能，轻松完成大尺寸样品的全表面3D形貌测量，还配备自动化模块，实现Mark点自动识别、位置纠偏，完成数万个微透镜单元的3D形貌批量检测。

2.共聚焦显微镜

基于共轭共焦技术与针孔滤光设计，结合弱光信号解析算法，对低反射率样品3D形貌测量适配性强，可测倾角达71.8°，能完整重建大陡壁复杂结构的3D形貌，配备真彩相机可输出3D真彩形貌图像，且无需气浮隔振台，抗振性强。

3.WT3000二合一机型（复合式光学3D表面轮廓仪）

将两套光学系统集成于电动机座，通过5孔电动物镜塔台实现一键模式切换，白光模式测超光滑3D形貌，共聚焦模式测复杂结构3D形貌，一次装夹完成全维度测量，两款设备均为光学非接触式无损检测，可测3D形貌、粗糙度、台阶高等核心参数，兼容ISO/ASME等国内外检测标准。

中图仪器整个显微测量仪产品线设备均为光学非接触式设计，核心部件耐用性强，后期维修保养成本低，批量采购还可享定制化报价，实实在在为企业节省全生命周期检测成本。

如需获取产品演示视频、行业案例手册或精准报价，欢迎随时联系中图仪器，我们将为你提供一对一专业咨询服务！

恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。