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Apollowave MJ-8D 阿波罗8K低温真空物理材料探针台
面议Apollowave PROBE CARD 阿波罗 高低温大电流及微波探针卡
面议Apollowave a-300CS阿波罗 -60/350度高低温 RF 手动探针台系统
面议Apollowave AP-200 阿波罗微波高功率探针台
面议APOLLOWAVE 阿波罗 桌面型小型0-200度 IV/CV 探针台
面议APOLLOWAVE ProbeCard 功率器件,光伏面板等半导体晶圆级探针卡
面议Apollowave α-100 阿波罗微波4英寸手动探针台
面议APOLLOWAVE α-150 手动探针台 高功率半导体探针台系统
面议Apollowave α-300 阿波罗 微波手动8英吋探针台
面议APOLLOWAVE 4/6/8/12寸载物台(可加热)探针台 高低温超低噪声
面议APOLLOWAVE M40 手动探针台精密 XYZ三轴可调探针座
面议APOLLOWAVE CURRENT PROBE高功率探针台探大电流针卡
面议液体窒素不要! 冷・加温真空チャンバ
MJ-3000は、半導体材料等の各特性を測定するための25mm 角ウェーハ対応のパルスチューブ冷凍機を実装した、小型軽量の冷・加温真空チャンバーです。液体窒素を用意する必要がなく、手軽に-180℃~+100℃まで試料を温度可変することができます。また、外部操作型ポジショナーが搭載されていますので、真空中で自由に深針移動が可能です。
4深針の外部操作型ポジショナーを搭載し、大気開放せずに真空中で深針移動ができます。 | |
従来の装置と違い、加熱ステージとパルスチューブ冷凍機 ※ が搭載されており、液体窒素を用意する必要がなく、長時間の作業でも酸欠(酸素欠乏症)の心配がありません。 | |
試料を-180℃~+100℃まで温度可変することができ、一定温度状態の試料測定が長時間可能となっています。 | |
チャンバー上蓋はヒンジ開閉式で110°開きますので、試料へのアクセスがスムーズにできます。 | |
ビューイングポート(回転式遮光蓋付属)が標準装備されており、光照射および顕微鏡を使用しての試料観測、探針移動、遮光に便利です。 |
MJ-3000基本仕様
温度ステージ部 | |
温度精度(ステージ温度) | ±1℃(ホールド状態) |
振動 | 約2μm以下 |
材料 | 銅(レーデント<黒>) |
寸法 | □33mm(接地タイプ) |
試料有効寸法 | □25mm |
温度範囲 | - 180℃~+ 100℃(Max.) |
センサー | PT100(4 線式) |
ヒーター | セラミックスヒーター |
試料押え | 4個 |
真空チャンバー部 | |
真空度 | 10 - 2 Pa 以上(真空ポンプに依存します) |
ビューポート | 石英ガラスφ 79 × t4mm(覗き有効径66 φ) |
ポジショナーポート | 外部操作型用:4個 |
予備端子ポート | 1個 |
リークバルブポート | 1/ 4" スウェージロック:1 個 |
センサーポート | ICF34:1個 |
ヒーターポート | ICF34:1個 |
ゲージポート | NW25:1個 |
予備ポートえ | NW25:1個 |
真空引口 | NW40:1個 |