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Apollowave MJ-3000 阿波罗 无液氮真空低温探针台系统
面议Apollowave MJ-8D 阿波罗8K低温真空物理材料探针台
面议Apollowave PROBE CARD 阿波罗 高低温大电流及微波探针卡
面议Apollowave a-300CS阿波罗 -60/350度高低温 RF 手动探针台系统
面议Apollowave AP-200 阿波罗微波高功率探针台
面议APOLLOWAVE 阿波罗 桌面型小型0-200度 IV/CV 探针台
面议APOLLOWAVE ProbeCard 功率器件,光伏面板等半导体晶圆级探针卡
面议APOLLOWAVE α-150 手动探针台 高功率半导体探针台系统
面议APOLLOWAVE 4/6/8/12寸载物台(可加热)探针台 高低温超低噪声
面议APOLLOWAVE M40 手动探针台精密 XYZ三轴可调探针座
面议APOLLOWAVE CURRENT PROBE高功率探针台探大电流针卡
面议APOLLOWAVE M30 手动探针台精密 XYZ三轴可调探针座
面议1 探针台主机:α-300
1.1 适用: 12英寸及以下晶圆或芯片
1.2 X轴: 粗调行程:310mm
粗调方式:自锁式推拉杆
微调行程:25mm
微调方式:千分尺控制
控制分辨率:10um
1.3 Y轴: 粗调行程:340mm
粗调方式:自锁式推拉杆
微调行程:25mm
微调方式:千分尺控制
控制分辨率:10um
1.4 Z轴: 移动量:10mm
粗调行程:5mm,精度:±10%以内
微调行程:0.3mm,精度:±20%以内
1.5 θ轴: 移动量:±8°以上
1.6 平行度: 对载物台 30um以内
1.7 尺寸: 600(W)×600(D)×450(H) 不含突出部
1.8 重量: 约60kg
1.9 真空压 小于-65kPa(用于晶圆吸附)
1.10 压缩空气:0.4-0.5MPa
1.11 使用环境:温度23℃±5℃,湿度20%-80%(无结霜)
1 探针台主机:α-300
1.1 适用: 12英寸及以下晶圆或芯片
1.2 X轴: 粗调行程:310mm
粗调方式:自锁式推拉杆
微调行程:25mm
微调方式:千分尺控制
控制分辨率:10um
1.3 Y轴: 粗调行程:340mm
粗调方式:自锁式推拉杆
微调行程:25mm
微调方式:千分尺控制
控制分辨率:10um
1.4 Z轴: 移动量:10mm
粗调行程:5mm,精度:±10%以内
微调行程:0.3mm,精度:±20%以内
1.5 θ轴: 移动量:±8°以上
1.6 平行度: 对载物台 30um以内
1.7 尺寸: 600(W)×600(D)×450(H) 不含突出部
1.8 重量: 约60kg
1.9 真空压 小于-65kPa(用于晶圆吸附)
1.10 压缩空气:0.4-0.5MPa
1.11 使用环境:温度23℃±5℃,湿度20%-80%(无结霜)