-
日本理学全反射 X 射线荧光光谱仪TXRF 3760-华普通用
全反射 X 射线荧光光谱仪表面污染计量测量离散点的元素污染或使用完整的晶圆图 参考价面议 -
ZSX Primus 400日本理学连续波长色散X射线荧光光谱仪ZSX Primus 400-华普通用
Rigaku 的 ZSX Primus 400 连续波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 光谱仪专为处理非常大或重的样品而设计。 参考价面议 -
TXRF-V310日本理学全反射 X 射线荧光光谱仪TXRF-V310-华普通用
日本理学全反射 X 射线荧光光谱仪TXRF-V310通过 VPD-TXRF 进行晶圆表面污染测量超痕量元素表面污染的测量 参考价面议 -
MiniFlex 600日本理学MiniFlex 600 台式X射线衍射仪-华普通用
理学台式X射线衍射仪系统将重新定义你所认为的X射线衍射仪方式。 参考价面议 -
WDA-3650日本理学波长色散X射线荧光光谱仪WDA 3650-华普通用
波长色散X射线荧光光谱仪WDA-3650用于薄膜评估的X射线荧光分析仪同时对各种薄膜的薄膜厚度和成分进行无损、非接触式分析 参考价面议 -
SmartLab日本理学SmartLab带制导软件的自动多用途X射线衍射仪（XRD）
日本理学SmartLab带制导软件的自动多用途X射线衍射仪（XRD）粉末衍射、薄膜计量、SAXS、面内散射、操作测量 参考价面议 -
DSC8231日本理学同步热分析仪DSC8231-华普通用
日本理学同步热分析仪DSC8231测量体重变化和吸热或放热反应 参考价面议 -
DSC8231日本理学差示扫描量热仪DSC8231-华普通用
差示扫描量热仪DSC8231差示扫描量热法（DSC）量化熔化、转变、结晶和玻璃化转变温度等反应中的能量变化，主要用于研发;以及聚合物、制药领域的质量控制。 参考价面议 -
Crossbeam 350德国蔡司FIB双束扫描电镜Crossbeam 350-华普通用
蔡司FIB双束扫描电镜Crossbeam 350结合了高分辨率场发射扫描电镜（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦离子束（FIB）的优异加工能力。 参考价面议 -
Crossbeam系列德国蔡司FIB双束扫描电镜Crossbeam 550-华普通用
蔡司FIB双束扫描电镜Crossbeam 550结合了高分辨率场发射扫描电镜（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦离子束（FIB）的优异加工能力。 参考价面议 -
PVC环PVC环/压样环/X射线荧光光谱仪压片机专用塑料环-华普通用
应用于X射线荧光光谱仪配用的压片机作为压样模具。 参考价面议 -
MultiSEM系列德国蔡司多束扫描电子显微镜MultiSEM系列-华普通用
德国蔡司 MultiSEM 研究合作计划速度非凡的扫描电子显微镜 参考价面议