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日本理学全反射 X 射线荧光光谱仪TXRF 3760-华普通用
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面议日本理学全反射 X 射线荧光光谱仪TXRF-V310-华普通用
面议日本理学MiniFlex 600 台式X射线衍射仪-华普通用
面议日本理学波长色散X射线荧光光谱仪WDA 3650-华普通用
面议日本理学SmartLab带制导软件的自动多用途X射线衍射仪(XRD)
面议日本理学同步热分析仪DSC8231-华普通用
面议日本理学差示扫描量热仪DSC8231-华普通用
面议德国蔡司FIB双束扫描电镜Crossbeam 350-华普通用
面议德国蔡司FIB双束扫描电镜Crossbeam 550-华普通用
面议PVC环/压样环/X射线荧光光谱仪压片机专用塑料环-华普通用
面议德国蔡司多束扫描电子显微镜MultiSEM系列-华普通用
面议技术参数:
结构设计 水平式炉子及天平
天平设计 双杆双天平设计(膨胀自动补偿)
样品容量 200 mg (包括样品盘可达350mg)
天平灵敏度 0.1 µg
炉子类型 双丝缠绕
温度范围 室温~1500℃
加热速率 - 室温到1000℃ 0.1 ~ 100 ℃/分钟加热速率-
加热速率 - 室温到1500℃ 0.1 ~ 25 ℃/分钟加热速率-
炉子降温 强制空气(从1500 ℃ 到50 ℃< 30 分 钟)
热电偶 铂/铂铑(R型)
温度校正 金属标样居里点(一至五个点)
DTA灵敏度 0.001 ℃
量热精度/准确度 +/- 2 % (根据金属标样)
数字式质量流量控制器
及气体自动气体切换器 标配
真空度 到7 Pa (0.05 Torr)
反应性气体接入口 标配 (独立进气管)
双样品TGA测试 标配
自动优化的布阶恒温技术 标配
样品坩埚 铂金:40 µL,110 µL
氧化铝: 40 µL, 90 µL
主要特点:
真正同步的TGA/DTA,TGA/DSC测量
*的双天平设计
真正的差示热流信号
隔离的反应气体通路
双样品TGA功能
*的校正技术
DSC数据的动态归一处理
热天平
Q600采用高可靠性的水平双臂双天平结构,同时完成DSC和TGA的测量。给出的重量信号为样品臂和参比臂的重量信号差,事实上,二者都会自动扣除天平臂的热膨胀和浮力效应。因此,相对于单臂梁的设计来讲,其结果漂移更小,重量测试的精度和准确度也更高。用户在测试微量的重量变化(0.1µg)时,就能受益于仪器的高灵敏度、精度和准确度。同时,仪器的*性还在于它可以同时独立的对两个样品进行TGA测量。
吹扫气体系统
Q600采用经*实践证明性能的水平吹扫气路设计。Q600配有数字式质量流量控制器及气体自动切换器,精确控制流量的吹扫气体水平流过加热炉体,经过样品和参比盘后,后流出炉腔。反应性气体可以通过独立式的Inconel600气管进入,可以保护天平组件,并可以有效的吹扫到样品。出口可容易的与质谱仪或红外分析仪联用。此设计保证了更好的基线稳定性,较小的浮力效应,防气体回流,能将分解物质有效带出样品区。
高分辨SDT
如果用标准方法(实验中始终保持线性加热速率)无法分离相邻的失重现象,Q600还提供自动的步阶恒温(SWI)方法,一种增加TGA分辨率的经典技术。这种方法为,在恒定的升温速率下加热样品,直到失重速率或总失重量超过操作者设定的界*,仪器便恒定在该温度,直至失重过程完成。每一次失重过程发生时,都会重复这种升温、恒温的步骤,从而得到优异的失重分辨率。