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日本理学全反射 X 射线荧光光谱仪TXRF 3760-华普通用
面议日本理学连续波长色散X射线荧光光谱仪ZSX Primus 400-华普通用
面议日本理学全反射 X 射线荧光光谱仪TXRF-V310-华普通用
面议日本理学MiniFlex 600 台式X射线衍射仪-华普通用
面议日本理学波长色散X射线荧光光谱仪WDA 3650-华普通用
面议日本理学SmartLab带制导软件的自动多用途X射线衍射仪(XRD)
面议日本理学同步热分析仪DSC8231-华普通用
面议日本理学差示扫描量热仪DSC8231-华普通用
面议德国蔡司FIB双束扫描电镜Crossbeam 350-华普通用
面议德国蔡司FIB双束扫描电镜Crossbeam 550-华普通用
面议PVC环/压样环/X射线荧光光谱仪压片机专用塑料环-华普通用
面议德国蔡司多束扫描电子显微镜MultiSEM系列-华普通用
面议VH1102和VH1202为显微硬度测试提供了通用、经济且可靠的解决方案,两款产品都可以用于质量控制和金相研究应用。VH1002系列允许操作员在单机模式使用数显相机或使用可选的集成式高分辨率相机和强大的DiaMet™ 软件。
体验更高的舒适性和精度
手动的负载选择器旋钮替换成一个耐用的电机,实现自动负载更换。
集成快速安静的电动转台,作为完整的自动测试循环的一部分。仅需打开启动键。
功能多样化
设计用于维氏硬度试验,符合标准ISO 6507和ASTM E384
步段超前负载范围:0.01-50kgf, 10 个单独负载步骤
提升自动化使用便利性
基本 – 使用内置的摄像头和DiaMet软件可以在您的屏幕上*控制硬度计和测量锯齿状切口。一个强大的数据管理工具使您可以评价和存储您的数据。
半自动 - 采用电动XY平台帮助您设置进行CHD和NHT测量时简单横向运动;通过自动测量切口对角线消除用户的影响。
全自动 - 采用摄像头、电动XY平台和自动对焦模块,该全自动的DiaMet系统能够在操作员不干预的情况下测量数百个切口。
威尔逊 VH1102和1202产品规格 | ||
VH1102 | VH1202 | |
载荷范围 | 10-2000gf | 10-2000gf |
物镜 | 3 位 | 4 位 |
压头 | 1 位,努氏或维氏 | 2 位, 努氏或维氏 |
LCD | 7" 彩色LCD,USB 输出 | |
测试标尺 | HV0.01 - HV0.025 - HV0.05 - HV0.1 - HV0.2 - HV0.3 - HV0.5 - HV1 - HV2 HK0.2 - HK0.3 - HK0.5 - HK1 - HK2 |