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日本理学全反射 X 射线荧光光谱仪TXRF 3760-华普通用
面议日本理学连续波长色散X射线荧光光谱仪ZSX Primus 400-华普通用
面议日本理学全反射 X 射线荧光光谱仪TXRF-V310-华普通用
面议日本理学MiniFlex 600 台式X射线衍射仪-华普通用
面议日本理学波长色散X射线荧光光谱仪WDA 3650-华普通用
面议日本理学SmartLab带制导软件的自动多用途X射线衍射仪(XRD)
面议日本理学同步热分析仪DSC8231-华普通用
面议日本理学差示扫描量热仪DSC8231-华普通用
面议德国蔡司FIB双束扫描电镜Crossbeam 350-华普通用
面议德国蔡司FIB双束扫描电镜Crossbeam 550-华普通用
面议PVC环/压样环/X射线荧光光谱仪压片机专用塑料环-华普通用
面议德国蔡司多束扫描电子显微镜MultiSEM系列-华普通用
面议可应用范围:珠宝首饰、贵金属合金分析、金属、汽车、航空超大及微小部件的成分检测、电子行业电子RoHS指令的快速检测、司法鉴定分析、其它微区分析和较大样品表面元素分布分析
Spectro MIDEX XRF 特点重点说明
德国 Spectro MIDEX 是目前世界上性能价格比,使用,运行成
本低,仪器稳定性的XRF 仪器。德国Spectro MIDEX 有很多技术优势,
在此无法一一列举,以下仅列一些主要特点:
一、电制冷的 SDD 检测器不需液氮制冷。
二、超大样品内仓(475*460*280 mm)可以放超大或者超小的样品,对样品的
形状没有任何要求。
三、采用上照式光管设计(X 光管的光束是从上往下照射样品的),光斑*电
脑控制,通过摄像头可在电脑上轻松去选定测试样品上的某个点(这个优点
对于不规则样品来讲是优势的);同时上照式的光管可以避免在测液体
样品时发生泄漏而损坏X 光管的问题。
四、摄像头 20 倍变焦放大;激光束定位,弥补了摄像系统可能的位置偏差。
五、符合 ISO9001, CE… 德国X 射线安全使用标准
六、不仅可对样品的微小区域所存在的元素进行快速无损的分析鉴定,还可对超
大样品的表面(面积可达EC 标准线路板规格的2 倍,233*160mm),进行元素分析。
七、SPECTRO MIDEX X 射线荧光能谱仪是为满足多种分析任务而专门研制开
发的微区分析仪器,灵敏度高,无破坏性,适合多种行业及研究领域。
八、分辨率:160ev , 计数率:250000cps(目前计数率)。
九、软件驱动的狭缝交换器,分析面积为 0.2/0.5/1/2.5/3.3 mm. 可自由选择,小
焦点聚焦方式,能量无损失,定位更加精准,可以测试到细小的焊端,引脚
和BGA 焊球。
十、仪器拓展性:用户可自己建立曲线,建立测试方法,扩展性较好,可以使仪
器十年都保持*,软件*升级。
十一、快速测定:可设定精度,自动控制测试时间测试,测试时间短。
十二、内置近百种不同材质的标准样品。
十三、斯派克公司开发的 TQ-RoHS 软件,具有强大的分析功能,可以校正多元
素重叠,扣除Sb,Sn 及Br,As 分别对Cd,Pb 测试的影响,采用康普顿
散射内标法校正(补正)不同的材质。
十四、从Mg~U所有元素的测定只需要哦180秒
软件的灵活性体现在:
1.将待测样品的尺寸与准直器及分析方法匹配。
2.对凹凸不平的样品可分别标示连续分析。
3.用户可选取不同区域进行放大,并以任意格式保存。
4.画中画功能,可以任意查看谱图及来源。