质量保证 膜厚测试仪X射线衍射装置

  具体地说,比如用不同的装置测定食盐（NaCl）时,从萤光X射线装置得到的信息为此物质由钠（Na）和氯（Cl）构成,而从X射线衍射装置得到的信息为此物质由（NaCl）的结晶构成。单纯地看也许会认为能知道结晶状态的X射线衍射装置（XRD为好,但当测定含多种化合物的物质时只用衍射装置（XRD）就很难判定,必须先用萤光X射线装置（XRF）得到元素信息后才能进行定性。
主要特点

   ★ 自动对焦功能 。配备激光自动对焦功能，能够准确对焦，提高测量效率。

　　★ 具有焦点距离切换功能，适用于有凹凸的机械部件与电路板的底部进行测量

　　★ 采用检量线法和FP法，两个准直器可自动切换，采用激光自动对焦，并配备有Z轴防冲撞传感器，可防止在对焦时造成的损坏。

　　★ 选用Mo靶材X射线管，测量贵金属更灵敏。

　　★ 支持多种语言的软件系统。简体中文、繁体中文、英语、日语、韩语

　　★ 搭载样品尺寸的兼容性可适用于各种样品，能够通过一台仪器测量，从电子部件、电路板到机械部件等高度较高的样品，从较厚的样品（机械零部件）之大型线路板（PCB）及电子元器件等

　　★ 卤素灯照明

　　★即时生成测量报告的便捷性 。运用搭载的Microsoft Word? Excel? 可以简单轻松得到制作报告

　　★ 多种修正功能。基材修正、已知样品修正、人工输入修正

　　★ 搭载了电动X－Y移动平台

质量保证 膜厚测试仪技术参数：

　 仪器的特长：广泛应用型

　　可测元素：Ti～U

　　X射线管：小型空气冷却型高功率X射线管球（W靶）管电压：45kV 管电流：1mA Be窗

　　滤波器：

　　一次滤波器：A1-自动切换

　　二次滤波器：Co-自动切换

　 检测器：比例计数管

　　样品观察：CCD摄像机

　　对焦方式：激光自动对焦

　　测定软件：薄膜FP法、检量线法

　　5个准直器可自动切换

　　型（Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3mm）

　　型（0.2×0. 05 mm、0.05×0.02 mm）

　　安全机能：测量室门自锁功能

　　Z轴防冲撞功能

　　仪器自诊断功能

质量保证 膜厚测试仪原理

  采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。还采用设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高（几乎达一个数量级）。现代的磁感应测厚仪，分辨率达到0.1um，允许误差达1%，量程达10mm。