LED显示荧光镀层X射线测厚仪技术参考

X-Starata920LED显示荧光镀层X射线测厚仪技术参考

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2019-05-27 15:01:06
3707
属性:
产地:国产;加工定制:否;
>
产品属性
产地
国产
加工定制
关闭
深圳市鼎极天电子有限公司

深圳市鼎极天电子有限公司

免费会员
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

LED显示荧光镀层X射线测厚仪技术参考可应用于PCB、FPC、LED、连接器、端子、电阻和电容等电子元件、螺栓和弹簧等五金产品、卫浴洁具、汽车零部件、功能性电镀件、装饰件、首饰饰品等多个行业、检测机构和科研院校。可测元素:钛Ti22---铀U92间各元素,同时可测量5层镀层的厚度。且能在10秒内可得出测量结果。

详细介绍

LED显示荧光镀层X射线测厚仪技术参考主要特点:

可测元素范围:钛Ti22---铀U92;

可测定5层(4层镀层 底材层)镀层,同时分析15种元素,自动修正X射线重叠谱线;

进行贵金属检测,如Au karat评价;

材料鉴别和分类检测,材料和合金元素分析,元素光谱定性分析;

测量精度高、稳定性好,测量结果精确至μin;

强大的数据统计、处理功能,测量结果输出多样化;

拥有NIST认证的标准片;

LED显示荧光镀层X射线测厚仪技术参考产品概述:

它是能量色散X射线荧光(EDXRF)技术的大型台式测厚仪,是牛津仪器CMI900系列镀层测厚仪的升级产品,将取代CMI900系列产品。能进行非破坏、非接触,快速无损测量,在10秒内得出测量结果,可进行多层合金测量,具有高生产力优点,是质量管理、成本节约有力的检测工具。

X射线荧光镀层测厚仪X-Strata920是牛津仪器发布的新一代镀层测厚仪;是CMI900的升级换代产品;在CMI900基础上,改进了系统安全部件、系统软件进行了更新、测量结果进行多样化的输出;是X射线荧光(XRF)镀层测厚仪;具有非破坏、非接触、无损测量;一键定焦,有效避免人为操作误差;快速简洁,仅需10秒即可得出测量结果。适用于大多数行业,是质量控制、节约成本的检测工具。拥有着多种称谓:金镍测厚仪、LED测厚仪、金银测厚仪、X射线测厚仪、X-Ray测厚仪、台式测厚仪、镀层测试仪、支架测厚仪……

LED显示荧光镀层X射线测厚仪测量精度:

范围

*层(zui上层)

第二层

第三层

小于0.5 µm (20 µin)

 1 µin 或更好

 2 µin 或更好

 3 µin 或更好

大于0.5 µm

 5% 或更好

 10% 或更好

 15% 或更好

含量

*层

第二层

1--99 wt %

 

 3 wt % 或更好

 

 

LED显示荧光镀层X射线测厚仪技术参数:

型号

P920-S

P920-MWS

P920-MWM

P920-AM

名称

半自动

自动台

固定台

单准直器加深台

多准直器加深台

样品图片

测量元素范围

Ti22---U92

镀层和成分分析

镀层:zui多同时测定5层(4层镀层 基体材料)镀层

成分:zui多同时测量25种元素

测量方法

SmartLinkâFP(基本参数法)

仪器预装超过800种应用参数/方法

简单直观步骤建立应用

X射线激发

50kV1.0mA(50W)

空冷式微聚焦WX射线管,Be

垂直下照式X射线光学系统

安全防射线光闸

二次滤波组件,可选三个程控交换的滤波器,有效X射线重叠谱的修正

成像系统

彩色视频系统

光学放大:30倍,可选项50

数字放大200%

激光自动对焦

被测样品图像实时显示功能

计算机系统

In Core i3-3240  3.40GHz,内存2G,硬盘500GDVD光驱

17吋液晶彩色显示器

MicrosoftTM  Win7 32bit

样品台规格

测量样品高度≤33mm

测量样品高度≤160mm

样品仓内部尺寸(宽××高):279×508×152mm

样品仓抽屉式设计,4个位置上下可调,每格高度25.4mm

自定义样品台:可依据客户要求提供更高的样品台,满足样品高度>160mm的测量

测量样品高度≤33mm

X-Y行程:宽×178×178mm

样品台尺寸:宽×610×560mm

自动送样,无人自动测量

对样品编程控制,自动多点测试和重复测试

鼠标控制样品台精确定位样品

仪器外形

×深×

407×770×305mm

407×770×400mm

610×1037×375mm

Z

使用鼠标控制,程控移动距离43mm

准直器规格

可选单准直器、多准直器

多准直器程控交换

可选园形、矩形准直器

园形准直器:Ø0.1Ø0.15Ø0.2Ø0.3Ø0.33Ø0.5mm

矩形准直器:0.025x0.050.05x0.050.013x0.2540.254x0.2540.051x0.2540.102x0.406mm

单准直器标配:Ø0.3mm

双准直器标配:Ø0.1Ø0.3mm

四准直器标配:Ø0.15Ø0.30.05x0.050.051x0.254mm

探测器

正比例计数器

工作原理

对被测样品发射一束一次X射线,样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度,X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析

安全性

自动锁定功能,防止未*的操作

简单用户界面只向日常操作员设定有限的*

主管人员可进行系统维护

系统自动生成操作员的使用记录

Z轴保护传感器

安全防射线光闸

样品室门开闭传感器

X射线锁

X射线警示灯

紧急停止按钮

前面板安全钮和后面板安全锁

结果输出

直接打印

一键导出到PDF文件、Excel文件(选配);

自定义报告模板,报告包可含数据、图像、统计图表、客户信息等;

统计数据、图、表含有平均值、标准偏差、相对标准偏差、zui大值、zui小值、数据变动范围、数据编号、CPCPK、控制上限图、控制下限图,数据分组、X-bar/R图表、直方图等

 

 

 

上一篇:牛津CMI500孔铜测厚仪操作手册 下一篇:美国博曼(BOWMAN)X荧光测厚仪原理
热线电话 在线询价
提示

仪表网采购电话