Bowman XRF系统使用专门设计的微点聚焦X射线管作为能源，温度稳定的硅PIN二极管作为探测器，宽带宽，多通道放大器用于对辐射光子进行分类和计数。 Bowman Xralizer软件采用*的算法来测量检测到的光子中材料的厚度。
通过微焦点相机对准X射线光学轴线选择样品的测试区域。 由聚焦激光控制的平台能容纳不同高度的样品。
膜厚仪厂家，美国博曼测厚仪Bowman XRF涂层测量系统符合行业对精度，可靠性和易用性的严格要求。 紧凑，符合人体工程学的设计使分析便于每个应用 - 保证价格可以快速实现投资回报。
膜厚仪厂家，美国博曼测厚仪全系列产品满足用户不同的测量需求
- G系列 珠宝业的过渡金属分析
- B系列 小型电镀样品
- P系列 “多面手”，适用于电子，常规电镀，贵金属
- O系列 较大测量点的薄膜分析
- M系列 采用µ-spot多导毛细管技术，分析极小测量点的薄膜
- L系列 大型电镀样品
- W系列 用于测量微电子领域的小特征
智能化设计，强大的分析
- 几秒内完成金属镀层无损分析
- 成分分析多可分析25种元素
- 同时测量多达五个涂层，所有涂层都可以是合金
- 基础参数法-半定量分析厚度与成分
- 轻松设置和操作 - 一根USB完成连接
- 简洁的前控制面板
- 占地面积小，节约空间
- 轻量化设计，方便挪动
直观的用户界面
- 提供分析灵活性，同时减少用户出错机会
- 基于框架 Xralizer 软件
- 直观的图标引导用户界面
- 强大的定性/无标样分析功能
- 功能强大的标准片库
- 可定制快捷键，方便操作
- 灵活的数据显示和导出
- 强大的报告编辑器
性能，强大，便利
- 紧密耦合的几何设计*提高测量效率和精度
- 经验证的固态探测器可提供更高的分辨率，稳定性和灵敏度
- 仪器预热时间短，X射线管灯丝寿命长
- 可实现银、锡的L线薄膜分析
- 多位置一次滤波器与多规格准直器可供选择
- 灵活的焦距为复杂形状或厚度较大的样品提供测量便利
- 模块化组件设计，维护简
