美国博曼（Bowman）BA100系列MFF型镀层测厚仪按照应用的不同拥有多种不同的称谓：镀层膜厚仪、膜厚测试仪、金镍测厚仪、支架测厚仪、X-Ray测厚仪、金厚测试仪、银层测厚仪、台式膜厚仪、X射线测厚仪、测厚仪、膜厚仪等。

   A100系列MFF型镀层测厚仪:美国博曼BA100系列多准直器固定台镀层测厚仪，是原CMI公司的研发团队在2000年被牛津仪器收购后整体重新组建的K alpha公司，经过多年的酝酿、研发并于2010年发布的Bowman品牌的镀层测厚仪；广泛应用于如下领域：PCB、FPC、SMT、LED、连接器、端子、紧固件、五金、汽车零部件、卫浴等行业。主要用于产品镀层厚度测量、元素分析、镀液分析。

美国博曼（Bowman）BA100系列MFF型镀层测厚仪系统：

• 配置4个准直器的多准直器系统
• 标准规格：Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3、Φ1.5mm
• 可选规格：①0.05x0.25、Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3mm；②0.05x0.05、Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3mm；③0.025x0.05、Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3m

 美国博曼（Bowman）BA100系列MFF型镀层测厚仪工作原理：利用X射线照射产品样品，样品的不同元素发出不同能量大小的二次X射线荧光，仪器分析荧光的波长和能量大小从而无损计算出镀层的厚度。

美国博曼（Bowman）BA100系列MFF型镀层测厚仪特性：

• 测量元素范围为Ti22--U92
• 可同时测5层镀层（4层镀层+1层基材层）
• 成份分析zui多可达25种元素
• 测量精度高，测量结果精确至μin
• 测量单位可选择um、uin、mils、nm
• 配备Si-Pin高分辨半导体固态探测器，有效区分相邻元素的谱峰，提高稳定性和灵敏度
• 开机预热时间短，15秒左右即可正常进行测量工作
• 仪器与电脑仅需一根USB线连接，有效避免各种干扰，减少出错几率
• 电脑无需专门的视频卡，节省成本
• 仪器前置面板设置有测量机构上下移动按钮、测量的快捷按钮
• 配备高分辨率彩色CCD样品观察系统，标准光学放大倍数为30倍，具有测量位置预览功能
• 基于Net framework框架的Xralizer软件，均有直观的图标引导用户操作的界面
• 具有辅助的红点镭射聚焦功能，有效避免人为测量误差
• Z轴程控聚焦，可测外形高度≤132mm的产品
• Xralizer软件下的强大的报告编辑软件，可按客户需求编辑报告，
• 产品报告可以直接打印，也可转换成PDF、RTF、Excel、Text、Image等文件，
• 产品报告可自动显示每次测量点的图片，可显示：均值、标准偏差、zui大值、zui小值、波动范围，CP、CPK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图等
• 开放型的镀层应用可由客户依据引导图标自行建立

美国博曼（Bowman）BA100系列MFF型镀层测厚仪的工作仓：

• 开槽式工作台
• XY轴手动，Z轴程控，程控行程≤132mm
• 工作仓内部尺寸（宽×深×高）：310×390×132mm