博曼XRF荧光镀层测厚仪BA100-G-S可搭载高分辨率的固态探测器，良好的元素分辨率，无需二次滤波器，峰位长时间保持稳定，无需频繁地进行标准片校准；

   博曼XRF荧光镀层测厚仪BA100-G-S采用几何紧凑式结构，激发源到样品的距离只有其他同类机型的三分之一，有效的提高仪器测量产品精度的效率；

   博曼XRF荧光镀层测厚仪BA100-G-S可提供三种不同的样品平台供用户选择：

 1：标准固定平台；

 2：马达驱动/可编程XY平台；

 3：加宽的可编程XY平台

   博曼XRF荧光镀层测厚仪BA100-G-S仪器应用于航空航天、汽车、紧固件、PCB、FPC线路板、电子元器件、端子连接器、磁体、半导体、生物、能源、石化、贵金属等行业。

常见的镀层应用:

PCB行业

Au/Pd/Ni/Cu/PCB

引线框架

Ag/Cu

Au/Pd/Ni/CuFe

半导体行业

Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材

Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材

线材

Sn/Cu

珠宝、贵金属

10,14,18Kt

元素分析、合金分类、杂质分析、溶液分析、电镀液分析等