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电压量程
输出:±40.4 V
编程分辨率:0.1 μV
测量显示分辨率:100 nV
源精度:±(0.02% 读数 + 250 μV)
测量精度:±(0.015% 读数 + 150 μV)
典型噪声(0.1–10 Hz 峰峰值):(40V 档)
电流量程

直流连续电流:±3 A(6V 档)、±1 A(40V 档)
脉冲峰值电流: ±10 A
编程分辨率:2 pA
测量显示分辨率:100 fA(飞安级)
小电流测量精度:±(0.025% 读数 + 500 pA)
最小可测电流:100 fA,适合 pA 级漏电流测试
连续直流功率:40.4 W
脉冲峰值功率:100 W
四象限全覆盖:任意 V/I 组合可输出 / 吸收能量
测量范围:10 μΩ ~ 100 GΩ
四线开尔文测量,消除引线电阻误差
电阻测量基础精度:0.05%
最小可编程脉宽:50 μs
稳定建立时间:<100 μs
多档位占空比:100 mS 脉宽 25%、4 mS 脉宽 4%、1.8 mS 脉宽 1%
适用场景:功率器件、LED、太阳能电池、瞬态击穿测试
基础读数速率: 20 k 读数 / 秒存入仪器缓存
数字化高速采集模式:1 μs / 点(1 MHz 采样),捕捉瞬态尖峰、浪涌电流
双通道同步触发:硬件同步,两路同时输出同时采集,无时间偏移
TSP-Link 扩展总线(多设备级联)
8 路数字输入 / 输出触发 IO
四线制 Kelvin 测量端子(低噪声三轴接口)
工作温度:0 ℃ ~ 50 ℃
精度预热时间:30 分钟
外形尺寸(宽 × 高 × 深)
整机重量:11.8 kg
TSP Script 处理器:仪器本地运行测试程序,无需 PC 实时控制,大幅提升产线吞吐;
配套软件:KickStart 图形测试软件、TSP Express 快速脚本生成;
驱动支持:NET,SCPI 标准指令;
兼容仿真:内置 2400 系列源表指令层,原有 2400 测试程序无需重写;
多通道扩展:TSP-Link 菊花链,单链路最多联 16 台,合计 64 路 SMU 并行测试。
半导体器件表征
MOSFET、IGBT、二极管、三极管 IV 曲线、阈值 Vgs、导通电阻 Rds (on)、反向漏电流、击穿电压;双通道同时控栅极 + 漏极。
光电器件测试
LED、激光二极管、光电探测器、太阳能电池 IV/P-V 曲线、光电流、暗电流、正向压降。
材料科研
石墨烯、碳纳米管、二维材料、有机半导体、薄膜电阻、介电漏电流、高阻绝缘材料微小电导测量。
储能与电池
纽扣 / 软包小电池充放电循环、静态内阻、自放电漏电流、电芯高低压特性。
传感器与 MEMS
压阻传感器、霍尔器件、热电元件微弱激励与信号采集;微小电流 / 电阻漂移监测。
元器件量产检测
电阻、电容、继电器、连接器绝缘漏电流、导通阻抗批量自动化测试。
2601B:单通道,±1A 直流,20W 连续功率
2602B:双通道,每路 ±3A 直流 / 10A 脉冲,40W / 通道(主流大功率双通道)
2604B:双通道,±200V 高压,低电流精密测量