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吉时利6517B电阻计:
微弱电流能力
分辨率 10 aA(10⁻¹⁸ A),输入偏置电流<3 fA,噪声仅 0.75 fA p-p,最小电流量程输入端压降<20 µV,几乎不扰动被测微弱回路。
超宽电阻量程
电阻测量覆盖 10 Ω ~ 10¹⁸ Ω,覆盖导体、半导体、超高绝缘介质全区间;搭配 ±1kV 内置高压源,可做击穿、漏流、高低压变压扫描测试。
高精度多模式测量
支持 5½/6½ 位双精度模式;同时测电流、电压、电荷、电阻;内置 K 型热电偶测温、可选湿度探头,读数自带温湿度标记。
自动化与高速采集
425 读数 / 秒,内置 50000 点数据缓存;标配 GPIB (SCPI)+RS232,可选多通道扫描卡扩展至多 10 路样品同步测试。
内置专用测试序列
出厂预存:体电阻率、表面电阻率、表面绝缘电阻 SIR、器件漏流、电容漏电、电压扫描击穿测试,一键启动标准化测试流程。
电压反转算法
交替极性加压测量,抵消绝缘材料表面电荷、接触电势带来的基线漂移,大幅提升超高阻材料长期测量稳定性。
量程:100 fA ~ 20 mA,分 8 档;最小分辨率 10 aA
输入偏置电流:<3 fA(23℃典型),温度系数 0.5 fA/℃
输入噪声:0.75 fA 峰峰值(量程)
输入端压降(最小量程):<20 µV
精度(代表量程,6½ 位、1PLC 滤波):
1 nA 档:±(0.06% 读数 + 50 aA)
1 µA 档:±(0.04% 读数 + 4 pA)
1 mA 档:±(0.06% 读数 + 0.4 µA)
带宽:前置输出典型 100kHz (-3dB)
| 量程 | 6½ 位分辨率 | 1 年精度 ±(% 读数 + 偏移) | 温漂系数 /℃ |
|---|---|---|---|
| 2 V | 1 µV | 0.025% + 40 µV | 0.003% + 20 µV |
| 20 V | 10 µV | 0.025% + 300 µV | 0.002% + 100 µV |
| 200 V | 100 µV | 0.06% + 3 mV | 0.002% + 1 mV |
共模抑制 CMRR:直流>120dB;50/60Hz>120dB
常态模抑制 NMRR:2V/20V>60dB;200V>55dB
2 nC 档精度:±(0.4% 读数 + 5 fC)
2 µC 档精度:±(0.4% 读数 + 5 pC)
电荷泄漏时间常数 RC 典型 300000,长时测量自动补偿漏电偏移
测量区间:10 Ω ~ 10¹⁸ Ω
测量方式:内置源表法(±1kV 内置电压源输出)、电压反转交替极性模式
高阻模式自动切换:10¹²Ω 以上自动开启低电流、降噪滤波,适配绝缘薄膜、陶瓷、高分子材料
输出范围:±1000 V,连续可调,支持线性 / 阶梯电压扫描
步进精度:1 mV,可设定上升 / 保持 / 下降时序,用于击穿、耐压、漏流老化测试
输出电流:1 mA
标配 K 型热电偶输入:-25℃ ~ +150℃,精度 ±(0.3% 读数 + 1.5℃)
可选湿度探头:实时记录相对湿度,温湿度数据随读数同步存储
读数速率:425 次 / 秒(内部缓存),400 次 / 秒(GPIB 上传)
内部缓存:50000 组读数,每组附带测量值、时间、温度、湿度
显示:5½/6½ 位数字 LED,同时显示主读数 + 温湿度 / 电阻率单位
标准:IEEE488 GPIB(SCPI 协议)、RS-232 串口
扩展:主机插槽可选插卡,最多扩展 10 通道多路扫描测量
工作温度:0℃ ~ 50℃;校准参考温区 18~28℃
存储温区:-20℃ ~ 70℃
湿度:20%~80% RH(无凝露)
尺寸:标准机架 1/2 机架,44mm 高 ×213mm 宽 ×348mm 深
供电:100~240V AC 50/60Hz
材料科学
高分子绝缘材料、陶瓷介质、纳米薄膜、复合材料体电阻率 (Ω・cm)、表面电阻率 (Ω/□)、SIR 表面绝缘电阻,符合 ASTM D257 标准测试;
半导体与微电子
MOS 器件栅极漏流、光电探测器暗电流、电容介质漏电、PCB 绝缘阻抗、芯片封装漏电;
光电与光学
光电二极管、光电倍增管微弱光电流、辐射剂量检测、光束微弱离子电流;
电化学 / 生物测量
高阻抗离子电极、pH 电极、生物细胞微弱离子通道电流;
工业可靠性测试
电缆绝缘耐压击穿、高压器件漏电流老化、绝缘材料高低温湿热可靠性测试;
基础物理科研
离子束、放射性微电流、静电电荷积累、超高阻抗介质电学表征。
8009 三电极电阻率测试夹具(ASTM D257 标配,测体 / 表面电阻)
低噪声三同轴测试电缆(屏蔽保护端,降低外界干扰)
KickStart PC 软件:自动化电阻率、漏流扫描测试,数据导出绘图
可选:多路扫描插卡、温湿度探头、高压测试治具
