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PZT-JH30/1型 PVDF/聚合物薄膜电晕极化装置
¥1SPS-2T型放电等离子热压烧结炉
¥111GPZT-JH10/4W型共面高压极化装置
¥111DLQL-1700型电动送取样气淬炉
¥111YDQM-60型系列液氮冷却行星球磨机
¥1111XHLQM-30型系列循环冷风行星球磨机
¥1111PZT-1000型1000℃超高温压电极化装置
¥1111四通道同时极化PZT-JH10/4A型高压极化装置
¥1CCDPJ-42T型叠片机
¥1111SCRQ-100型生瓷带热切机
¥1111CCDSW-300型CCD型精密丝网印刷机
¥1111TBJ-01型实验室小型涂布机
¥1111BWGP-2000型变温光谱测试系统(高低温光谱系统)
BWGP-2000型变温光谱测试系统(高低温光谱系统) 可以测试样品在低温和高温下光谱发射的变化情况,该仪器配置不同系能得光谱可以用于透射、反射、吸收光谱是样品谱与参比谱的比值,会降低原始光谱的信噪比,因此需要光谱仪具有较高的信噪比;同时为了获取更多信息,需要光谱仪具有宽泛的光谱范围。而荧光强度较弱,属于弱光信号,为了探测荧光光谱,一般需要高灵敏度的光谱仪。需要对微米尺度的光谱信号进行采集,这需要光谱仪具有微弱光信号的检测能力。BWGP-2000是一款适合多种科研应用的光谱仪。
一、BWGP-2000型变温光谱测试系统(高低温光谱系统) 主要用途:
用于高低温下半导体发光波长在线检测
用于高低温下手机面板透过率检测
用于高低温下实验室微区样品透反射率检测
用于高低温下薄膜透过率检测其他化合物检测
用于高低温下纳米复合材料上转换荧光中的应用
用于高低温下测试物体的颜色检测
用于高低温下黑硅光电探测器研究中的应用
用于高低温下液晶显示研究中的应用
二、BWGP-2000型变温光谱测试系统(高低温光谱系统) 主要特点:
高低温测试系统可以任意设置温度
电脑软件自动显示温度和光谱图
3、可以灵活搭配不同类型的光谱仪
二、BWGP-2000型变温光谱测试系统(高低温光谱系统) 主要技术参数:
1、温度:-150℃-600℃
2、探测范围:200~1100nm
3、波长分辨率:0.7 nm
4、光学分辨率:z高 0.12nm (FWHM)
5、探测器: Hamamatsu,S10420 背照式
6、动态范围: 6,000:1
7、信噪比: 800:1 (饱和时)
8、杂散光: < 0.1% @ 600nm
9、光纤接口: SMA905
10、数据传输: USB-B,支持 USB2.0 通讯协议,480Mbps 传输速度
11、外部触发: 4 种触发模式
12、测温精度:0.1℃
13、外形尺寸:L360mm*W370mm*H510mm
14、净 重:22KG