教育领域重大设备更新实施方案设备采购资料 (GDPT-900A变温压电D33测试仪
时间:2024-07-17 阅读:359
教育领域重大设备更新实施方案设备采购资料
教育领域重大设备更新实施方案设备采购资料
(GDPT-900A变温压电D33测试仪,铁电,介电)
高校、职业院校的设备更新项目批复通知GDPT-900A变温压电D33测试仪,铁电,介电。具体资料和技术如下:
产品名称 | 招标技术参数 |
GDPT-900A型变温压电d33测量系统主要介绍 | GDPT-900A型变温压电d33测量系统是我院研制的即可低温测试D33系数,又可以高温测试D33系数。主要是针对高低温压电陶瓷材料和薄膜材料的测试。 二、主要应用领域:无损检测超声检测,医疗超声检测,航空航天,石油天然器,汽车物联网,工业 |
GDPT-900A型变温压电d33测量系统主要技术参数 | 1、d33测量范围:1PC/N-6000PC/N(1.5PC-30000PC) 2、力显示:0.01-4N 3、电源:电压220V 4、温度范围:温度-100℃至+500℃ 5、温控精度:温度显示精度0.01℃,温度控制精度±0.1℃,温度漂移优于±0.1℃内,超调≤0.1℃。 6、升温斜率:0.00至5.00℃/min,典型值2.00℃/min。 7、间隔保温:0.10至50.00℃/点,保温5分钟即可达到温度稳定状态。 8、样品夹具:夹持双面电极样品,直径小于30mm,厚度小于5mm。 9、测量环境:低温、高温、空气等。 10、电极材料:耐高温电极。 11、制冷方式:液氮控制系统 12、显示:液晶显示 13、采集方式:USB2.0高速数据 14、总重量: 15kg左右。 15、软件:专用软件自动测试温度与压电系数的关系变化 |
高温铁电材料测量系统 | GWTF-300GWTF-300 GWJDN-1000型宽频高温介电测量系统 关键词:高温介电, GWJDN-1000型高温介电测量系统(2019款)高温介电测量系统应用于高温环境下材料、器件的导电、介电特性测量与分析,通过配置不同的测试设备,完成不同参数的测试。是高温介电测试系统测试装置,是国家科研院所和高等学府的重要材料测试设备。 一、主要用途: 1、测量以下参数随温度(T)、频率(f)、电平(V)、偏压(Vi)的变化规律: 2、测量电容(C)、电感(L)、电阻(R)、电抗(X)、阻抗(Z)、相位角(¢)、电导(G)、电纳(B)、导纳(Y)、损耗因子(D)、品质因素(Q)等参数, 3、同时计算获得反应材料导电、介电性能的复介电常数(εr)和介质损耗(D)参数。 4、可测试低温环境下材料、器件的介电性能 5、可以根据用户需求,定制开发居里温度点Tc、机电耦合系数Kp、机械品质因素Qm及磁导率μ等参数的测量与分析。系统集低温环境、温度控制、样品安装于一体;具有体积小、操作简单控温精度高等特点。 二、主要技术参数: 主要技术参数: 1、温度范围: 室温-1000℃ 2、测温精度: 0.1℃ 3.升温速度: 1—20℃/min 4、控温模式: 程序控制,提供常温、变温、恒温、升温、降温等多种组合方式 5、通讯接口: RS-485 8、电极材质: 铂铱合金 9、上电极: 直径1.6mm球头电极,引线带同轴屏蔽层 10、下电极:直径26.8mm平面电极,引线带同轴屏蔽层 11、保护电极: 带保护电极,消除寄生电容、边界电容对测试的影响 12、电极干扰屏蔽:电极引线带同轴屏蔽,样品平台带屏蔽罩 13、夹具升降控制: 带程序和手动控制,可更换夹具的电动升降装置 14、热电偶 :热电偶探头与样品平台为同一热沉,测控温度与样品温度保持一致 15、无电极样品尺寸:直径小于40mm,厚度小于8mm 16、带电极样品尺寸: 直径小于26mm,厚度小于8mm 17、软件功能:自动分析数据,可以分类保存,样品和测量方案结合在一起,生成系统所需的实验方案,输出TXT、XLS、BMP等格式文件 18、测量方案: 提供灵活、丰富的测试设置功能,包括频率谱、阻抗谱、介电谱及其组合 19、标准极化样品:8片(10mm*1.5mm) 20、配套设备装置:能够配合ZJ-3和ZJ-6压电测试仪进行测量 21、配套设备装置:可以配置10MM,20MM,30MM,40MM压片夹具 23、测试频率:20HZ-10MHZ 24、测试电平:100mV—2V 25、分辨率:1MHZ 26、输出阻抗: 100Ω 27、测试参数:Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc 28、基本准确度: 0.05% 29、显示:液晶显示 30、参数测量:多功能图形和参数测量 31、接口方式: RS232C或HANDLER |
HTIM-600C型材料高温电阻率测试仪主要技术参数 | HTIM-600C型材料高温电阻率测试仪 关键词:电阻率,体电阻,表面电阻,CNAS HTIM-600高温电阻率测试仪是一款针对于材料的测量设备,可以出具CNAS整体认证的专业材料高温测量设备,该仪器采用使用方法多样化,2000V,6.4ms的采集系统,实现了是以往产品300倍的抗干扰功能6.4ms的高速测量,作为皮安表使用进行低电容检查,2×10^19 Ω显示,0.1fA分辨率标配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB,自行设计的悬浮式电路,能不受测量环境影响进行稳定测量,并且运用在产线中实现高速测量。可实现绝缘材料在高温下电阻和电阻率试验方法标准设计开发,可以直接测量高温、真空、气氛条件下样品的电阻和体电阻率、漏电流等随温度、时间变化的曲线,高温绝缘材料电阻率测试仪系统已经在航天航空传感器领域得到很好的应用。 一、主要用途:适用于新材料评估的特性: 1、用于陶瓷元件的絶縁劣化试验 2、贴片电容的IR测量 3、MLCC(多层陶瓷电容器)的绝缘测量 4、光伏电池薄膜的绝缘测量 5、噪音滤波器的绝缘(高阻)测量 6、液晶设备的绝缘测量 7、涂层(涂料)的表面电阻率测量 8、外壳的带电度的测量 9、二极管的微笑泄漏电流测量 10、光电耦合器的初级/次级绝缘(高电阻)测量 11、打印机墨粉辊轴的绝缘测量 12、用于针对半导体厂家的绝缘密封件的评估试验 13、用于组装在贴片机、分选机、自动化设备中 一、产品特点: 1、多种使用方法的超绝缘计,提供CNAS计量合格证书 2、能够作为IR表、静电计等高电阻计,以及作为皮安表这种微小电流计来使用,使用方法非常丰富的测量仪器。 2、能不受测量环境影响进行稳定测量,并且运用在产线中实现高速测量2000V输出 3、偏差1/60,抗噪音性能300倍, 通过全新的SM悬浮式电路和三轴连接器的组合,大幅提高抗噪音性能。 4、输出电压从0.1V到1000V,能够以0.1V为单位任意设置 5、6.4ms的高速检查, 高速检查和50mA的预充电功能的组合可以实现高产量的MLCC检查。 5、高温炉膛,耐高温、抗氧化的测试夹具,提供CNAS计量合格证书 二、主要技术参数: 1、体积电阻率和表面电阻率测试范围10的4次方Ω.cm~10的15次方Ω.cm; 2、测试电压:10V、50V、100V、250V、500V、1000V 3、电极材质:600℃不氧化,三电极尺寸为25mm(被保护电极直径)、38mm(保护电极内径)、50mm(保护电极外径),样品厚度在3mm以内; 3、测量精度:①电阻≤1010Ω时,精度±5%;电阻>1010Ω时,精度±10%;②电压<100V时,精度±5%,电压≥100V时,精度±2%; 2、温度范围;室温~600℃; 3、控温精度:温度≤300℃,精度±1℃,温度>300℃,精度±2℃;控温设备需有测温口;(能够通过计量CNAS认证) 4、测试软件:①可设置连续升温测试,得到不同温度下体积电阻率⒈砻娴缱杪示咛逯担苯拥玫教寤缱杪�-温度曲线、表面电阻率-温度曲线; 5、温度精度:可设置在某一具体温度点测试,得到体积电阻率、表面电阻率在不同时间点的具体值,直接得到体积电阻率-时间曲线、表面电阻率-时间曲线; 5、电脑要求:windows10 系统,内存16G以上,CPU四核; 6、升温速率0℃/min~ 10℃/min(不做计量要求); 7、能通氮气,测试时在高温和氮气环境下测试; 9、符合GB/T31838、GB/T10581、GB/T1410标准; 10、排气口有过滤装置; |
HTRT-1000型导电材料高温电阻率测试仪技术参数 | HTRT-1000型导电材料高温电阻率测试仪 关键词:电阻率,导电,合金高温 电阻率表征技术是典型的金属、合金相变行为研究手段,比如在先进钢中的碳运动行为分析、或是合金析出动力学研究、以及形状记忆合金的预相变行为表征的方面。电阻率对这些相变行为则非常敏感,应用电阻率手段研究合金析出动力学行为也是非常重要的手段,是一种可以对合金时效析出过程全时段实现监控的手段。同时,通过电阻率的演化规律,可以清晰的判断HTRT-1000本系统主要由高精度高稳定度的小电流源、高精度 :室温至1oC。 6*10-2Pa。 200uA-10mA,通过计算机通信控制实现连续可调(或定制),测量到4.计算机:通信控制温控仪加热曲线,实时接收当前温度值并存储显示。结合温度值显示电阻率5. 低温装置:低温实验可延伸6. app远程监控:手机 1、控温范围;℃℃,精度:℃℃,精度±℃ 阻:10-6~10-1 Ω1×1×1×-mm, 分辨率:10-8 材料尺寸:4、 四线探针;0.5 mm-0.7mm 6、外形尺寸:主 1300mm(长)×500mm(高) 重:≤<span font-size:16px;"="">60kg |
BKTEM-T1型热电赛贝系数测试仪 | BKTEM-T1型热电赛贝系数测试仪以测定半导体材料、金属材料及其他热电材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)的Seebeck系数及电导率. 应用范围:1、测定半导体材料、金属材料及其他热电(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康铜、镍、钨等金属,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系数及电导率、电阻率。 3、块体和薄膜材料测均可以测试。 4、试样与引线的接触是否正常V-1装置可以自动检出。 5、拥有自分析软件,独立分析,过程自动控制,界面友好。 6、国内高等院校材料系研究或是热电材料生产单位。 7、汽车和燃油、能源利用效率、替代能源领域、热电制冷. 技术指标要求 测量温度: 室温-600℃ 同时测试样品数量: 1个 测量功能: 材料赛贝克系数和电阻率Seebeck系数及电导率 控温精度: 0.5K 测量原理: 塞贝克系数:静态直流电;电阻系数:四端法 测量精度: 塞贝克系数:<±7%;电阻系数:<±10% 样品尺寸; 块体方条形:2-3×2-3 mm×10-23mm长,薄膜材料:≥50 nm 热电偶导距: ≥6 mm 电 流; 0 to 160 mA 加热电极相数/电压: 单相,220V, |