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Hakuto 离子蚀刻机 7.5IBE 电子束刻蚀系统
¥13Hakuto 离子蚀刻机 20IBE-C 电子束刻蚀系统
¥13Hakuto 离子蚀刻机 20IBE-J 电子束刻蚀系统
¥13Hakuto 离子蚀刻机 10IBE 电子束刻蚀系统
¥13零件检漏系统-检漏仪 Hakuto-Dan-100
¥11ATC 空气检漏仪 ME3
¥13ATC 空气检漏仪 ME2
¥12ATC 空气检漏仪 IPE2、IPE2-HP
¥10ATC 紧凑型空气检漏仪 E-PDQ (EQ)
¥11ATC 高灵敏度型微流量空气检漏仪 VE2
¥12ATC 压差型微流量空气检漏仪 E2
¥11Gel-Pak 真空释放(VR)托盘-芯片
¥10上海伯东美国 inTEST 台式高低温测试机 ATS-525 温度测试范围: -60°C 至 +225°C;
温度转变速率:
加热: -40至+ 125°C, <12秒
冷却: +125至-40°C, <40秒
上海伯东美国 inTEST 台式高低温测试机 ATS-525电源要求:
115±10%VAC, 60Hz, 20amp(可用15amp)
100±10%VAC, 50Hz, 20amp(可用15amp)
200±10%VAC, 50Hz, 16amp
220±10%VAC, 60Hz, 16amp
230±10%VAC, 50Hz, 16amp
旋钮式控制面板, 支持测试数据存储. 可选配小推车方便移动操作.
上海伯东作为 inTEST 高低温测试机的中国总代理, 全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务.
上海伯东美国 inTEST 台式高低温测试机产品优点:
1. 高低温测试范围广: -60°C 至 +225°C
2. 自动升降温, 不需要液态氮气(N2)或液态二氧化碳(CO2)冷却
3. 旋钮式控制面板
4. 排气量: 5 scfm ( 2.4 l/s)
5. 温度转变速率: -40 to +125°C <12 sec
+125 to -40°C <40 sec
6. 温度显示分辨率: ±1℃
7. 温度显示精度: ±1℃(通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)
8. 过热温度保护: 出厂设置温度 +230°C, 操作员可根据实际需要设置高低温限制点
9. 加热时, 高低温测试机自动减小制冷机功率
10. 2种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode(温度传感器: T型或K型热电偶)
11. 远程接口: IEEE.488, RS232
12. LabViewTM 驱动
13. 支持测试数据存储
14. 热流罩提供局限性的温度测试环境, 防止水气在DUT上凝结
15. 手持热管也可以随意的移动到被测组件上
16. Temptronic ATS-525 可台式直接使用也可配置小推车
17. CE相容 不含CFC: inTEST-Temptronic ATS-525 高低温测试机选用的制冷剂不含氟利昂、安全无毒、不易燃, 有效保护环境
18. Temptronic ATS-525 可自动错误诊断、易维护(可现场更换模块)
上海伯东美国 inTEST 台式高低温测试机技术参数:
尺寸 cm | 控制器(宽高深) 26.7 x 20.7 x 9.8 |
重量kg | 整机:112 |
噪音 | < 60 dBA |
上海伯东美国 inTEST 台式高低温测试机应用领域:
1. 集成电路 IC 卡高低温测试
2. 电子元件高低温测试
3. 半导体芯片高低温测试
4. PCB 电路板高低温测试
5. 光通讯器件(闪存,eMMC)高低温测试等等任何您需要测试的地方