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Hakuto 离子蚀刻机 7.5IBE 电子束刻蚀系统
¥13Hakuto 离子蚀刻机 20IBE-C 电子束刻蚀系统
¥13Hakuto 离子蚀刻机 20IBE-J 电子束刻蚀系统
¥13Hakuto 离子蚀刻机 10IBE 电子束刻蚀系统
¥13零件检漏系统-检漏仪 Hakuto-Dan-100
¥11ATC 空气检漏仪 ME3
¥13ATC 空气检漏仪 ME2
¥12ATC 空气检漏仪 IPE2、IPE2-HP
¥10ATC 紧凑型空气检漏仪 E-PDQ (EQ)
¥11ATC 高灵敏度型微流量空气检漏仪 VE2
¥12ATC 压差型微流量空气检漏仪 E2
¥11Gel-Pak 真空释放(VR)托盘-芯片
¥10海伯东是美国 inTEST 高低温测试机中国总代理, 全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务.
Temptronic ThermoStream 高低温测试机 ATS-545-M 温度范围 -80至+ 225°C; 电源要求: 200-250 VAC(230V标称)50 / 60Hz 30 amp, 1phase
转换速率:
加热:-55至+ 125°C, <10秒
冷却:+125至-55°C, <10秒
inTEST 高低温测试机 ATS-545-M 在没有液态氮气 LN2或液态二氧化碳 LCO2的超低温下进行 MIL-STD 和商业测试.
inTEST Temptronic 超高速高低温测试机 适用于电子元件、集成电路 IC、PCB 电路板的高低温测试.
inTEST Temptronic 高低温冲击测试机功能优点:
1.与友厂对比, inTEST ThermoStream *的自动复叠式制冷系统(auto cascade refrigeration)保证低温, 内置 AC 交流压缩机, 冷冻机(Chiller)特殊设计, 制冷剂不含氟利昂、安全无毒、不易燃, 有效保护环境;
2.ESD 防静电保护设计
3.旋钮式控制面板, 支持测试数据存储。
4.过热温度保护: 出厂设置温度 +230°C
5.加热模式下, 冷冻机可切换成待机模式, 以减少电力消耗
6.干燥气流持续吹扫测试表面, 防止水气凝结
与传统高低温测试箱、温湿度测试箱对比, inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势:
1、变温速率更快
2、温控精度: ±1℃
3、实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度
4、针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 可单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件
5、对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击; 传统高低温箱无法针对此类测试
6、对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度
inTEST ATS-545-M 高低温测试机(替代 TPO4310,Thermonics T-2820 技术参数:
型号 | 温度范围 °C | * 变温速率 | 输出气流量 | 温度 | 温度显示 | 温度 |
ATS-545-M | -75 至 + 225(50 HZ) | -55至 +125°C | 4 至 18 scfm | ±1℃ | ±0.1℃ | T或K型 |
* 一般测试环境下;变温速率可调节
尺寸: 宽61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cm
重量:净重 236 kg, 毛重 365 kg
手臂延展大 160 cm
标准zui高操作高度 130.3 cm;(可选188 cm)
标准低操作高度 69.1 cm;(可选81.3 cm)
噪音 < 65 dBA
inTEST ATS-545-M 高低温测试机(替代 TPO4310,Thermonics T-2820 测试方法:
提供两种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode
通过热流罩或测试腔将被测 IC 与周边环境隔离,然后对 IC 循环喷射冷热气流,使IC 温度短时间发生急剧变化,从而完成温度循环和温度冲击的测试。