inTEST ATS-545-M 高低温测试机-高低温试验箱
inTEST ATS-545-M 高低温测试机-高低温试验箱
inTEST ATS-545-M 高低温测试机-高低温试验箱

inTEST ATS-545-M 高低温测试机-高低温试验箱

参考价: 订货量:
12 1

具体成交价以合同协议为准
2020-09-23 15:58:28
211
属性:
产地:进口;加工定制:是;外形尺寸:宽61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cmmm;温度波动度:±1°C℃;温度范围:-80至+ 225°C℃;温度均匀度:1°C%;重量:净重 236 kg, 毛重 365 kgkg;
>
产品属性
产地
进口
加工定制
外形尺寸
宽61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cmmm
温度波动度
±1°C℃
温度范围
-80至+ 225°C℃
温度均匀度
1°C%
重量
净重 236 kg, 毛重 365 kgkg
关闭
上海伯东企业有限公司

上海伯东企业有限公司

免费会员
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

上海伯东是美国 inTEST 高低温测试机中国总代理, 全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务.
Temptronic ThermoStream 高低温测试机 ATS-545-M 温度范围 -80至+ 225°C; 电源要求: 200-250 VAC(230V标称)50 / 60Hz 30 amp, 1phase

详细介绍

海伯东是美国 inTEST 高低温测试机中国总代理, 全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务.

Temptronic ThermoStream 高低温测试机 ATS-545-M 温度范围 -80至+ 225°C; 电源要求: 200-250 VAC(230V标称)50 / 60Hz 30 amp, 1phase

转换速率: 
加热:-55至+ 125°C, <10秒
冷却:+125至-55°C, <10秒

inTEST 高低温测试机 ATS-545-M 在没有液态氮气 LN2或液态二氧化碳 LCO2的超低温下进行 MIL-STD 和商业测试.

inTEST Temptronic 超高速高低温测试机 适用于电子元件、集成电路 IC、PCB 电路板的高低温测试.

 

inTEST Temptronic 高低温冲击测试机功能优点:


1.与友厂对比, inTEST ThermoStream *的自动复叠式制冷系统(auto cascade refrigeration)保证低温, 内置 AC 交流压缩机, 冷冻机(Chiller)特殊设计, 制冷剂不含氟利昂、安全无毒、不易燃, 有效保护环境;

2.ESD 防静电保护设计

3.旋钮式控制面板, 支持测试数据存储。

4.过热温度保护: 出厂设置温度 +230°C

5.加热模式下, 冷冻机可切换成待机模式, 以减少电力消耗

6.干燥气流持续吹扫测试表面, 防止水气凝结

 

与传统高低温测试箱、温湿度测试箱对比, inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势:


1、变温速率更快
2、温控精度: ±1℃
3、实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度
4、针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 可单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件
5、对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击; 传统高低温箱无法针对此类测试
6、对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度

 

 

inTEST ATS-545-M 高低温测试机(替代 TPO4310,Thermonics T-2820 技术参数:

型号

温度范围 °C

* 变温速率

输出气流量

温度
精度

温度显示
分辨率

温度
传感器

ATS-545-M

-75 至 + 225(50 HZ)
-80 至 + 225(60 HZ)
不需要LN2或LCO2冷却

-55至 +125°C
约 10 S 或更少
+125至 -55°C
约 10 S 或更少

4 至 18 scfm
1.9至 8.5 l/s

±1℃
通过美国NIST 校准

±0.1℃

T或K型
热电偶

 

* 一般测试环境下;变温速率可调节

尺寸: 宽61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cm
重量:净重 236 kg, 毛重 365 kg

 

手臂延展大 160 cm
标准zui高操作高度 130.3 cm;(可选188 cm)
标准低操作高度 69.1 cm;(可选81.3 cm)
噪音 < 65 dBA

 

inTEST ATS-545-M 高低温测试机(替代 TPO4310,Thermonics T-2820 测试方法:

提供两种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode
通过热流罩或测试腔将被测 IC 与周边环境隔离,然后对 IC 循环喷射冷热气流,使IC 温度短时间发生急剧变化,从而完成温度循环和温度冲击的测试。

上一篇:高低温试验箱产生噪声怎么处理 下一篇:如何保证高低温试验箱的温度波动范围在合适的范围内?
热线电话 在线询价
提示

仪表网采购电话