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Hakuto 离子蚀刻机 7.5IBE 电子束刻蚀系统
¥13Hakuto 离子蚀刻机 20IBE-C 电子束刻蚀系统
¥13Hakuto 离子蚀刻机 20IBE-J 电子束刻蚀系统
¥13Hakuto 离子蚀刻机 10IBE 电子束刻蚀系统
¥13零件检漏系统-检漏仪 Hakuto-Dan-100
¥11ATC 空气检漏仪 ME3
¥13ATC 空气检漏仪 ME2
¥12ATC 空气检漏仪 IPE2、IPE2-HP
¥10ATC 紧凑型空气检漏仪 E-PDQ (EQ)
¥11ATC 高灵敏度型微流量空气检漏仪 VE2
¥12ATC 压差型微流量空气检漏仪 E2
¥11Gel-Pak 真空释放(VR)托盘-芯片
¥10上海伯东美国 inTEST 高低温测试机 ATS-750 温度冲击范围: -90°C 至 +300°C; 电源要求: 200-250 VAC(230V 名义)50 / 60Hz, 30 amp, 1 phase
美国 inTEST 高低温测试机 ATS-750 温度转变速率:
加热: -40至+ 125°C, <12秒
冷却: +125至-40°C, <40秒
可移动的超低温至高温热环境, 用于材料和电子产品的温度测试, 表征和热冲击, 包括: IC, MEMS和光学收发器. 在没有 LN2或 LCO2的超低温下进行 MIL-STD 和商业测试.
上海伯东作为 inTEST 高低温测试机的中国总代理, 全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务.
inTEST ATS-750-M 高低温测试机 产品优点:
1. 变温速率:
加热: -40至+ 125°C, <12秒
冷却: +125至-40°C, <40秒
2. 连续排气量:4 至 18 scfm ( 1.9 至 8.5 l/s)
3. 温度显示分辨率:±1°C
4. 温度显示精度:±1°C(通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)
5. 2种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode (DUT 温度传感器:T型或K型热电偶)
6. 远程接口: IEEE.488, RS232
7. 加热盖提供局限性的温度测试环境,防止水气在DUT上凝结
8. 手持热管也可以随意的移动到被测组件上;也可选购工作支架,省去手持的操作
9. LabView™ 驱动
10. CE相容 不含CFC
11. 加热除霜快速去除制冷机内部积聚的水分
12. 低温时热模式自动减少电力
13. 待机时自动节省电力
inTEST ATS-750-M 高低温测试机 尺寸及重量:
尺寸: 宽61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cm
重量:净重 236 kg, 毛重 365 kg