金属镀层测厚仪

牛津CMI760金属镀层测厚仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2016-09-07 12:25:56
250
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产品简介

CMI243的ECP-M探头专为较难测量的金属覆层设计,此单探头可以测量铁质底材上几乎所有金属覆层,例如锌、镍、铜、铬和镉。更小的探针为极小的、形状特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的测量。
zui小柱面半径工作高度zui小测量面积直径zui小底材厚度
凸面凹面
1.2mm
(0.045")3.5mm
(0.135")100mm
(4")2.5mm
(0.09")0.3mm
(12mils

详细介绍

手持式涂镀层测厚仪 CMI243  介绍

牛津仪器CMI233测量黑色金属底材上的金属镀层厚度,用于紧固件、螺栓、汽车部件、齿轮、管件等表面镀层。

技术规格:

CMI243配置包括:

CMI243探针状况

CMI243的ECP-M探头专为较难测量的金属覆层设计,此单探头可以测量铁质底材上几乎所有金属覆层,例如锌、镍、铜、铬和镉。更小的探针为极小的、形状特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的测量。

 

 zui小凸面半径 zui小凹面半径 工作高度zui小测量面积直径 zui小底材厚度 
 1.2mm (0.045") 3.5mm (0.135") 100mm (4")  2.5mm (0.09") 0.3mm(12mils)

 

操作范围 

 

 铁上镀层镀层厚度范围   探头
Zn  0-38μm(0-1.5mil) ECP-M
Ni 0-75μm(0-3.0mil ECP-M
Cd 0-38μm(0-1.5mil) ECP-M
Cr 0-38μm(0-1.5mil) ECP-M
Cu 0-10μm(0-0.4mil) ECP-M
非磁性/Fe 0-1270μm(0-50mil) SMP-1

 

 

售后服务

  仪器自购买后享有自购买日期计起为期一年的保固期。

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