博曼固定台多准直器镀层测厚仪BA-100-B-MFF使用的是Si-Pin半导体固态探测器，搭载高分辨率的固态探测器，能使探测器的分辨率提高，在测量相邻元素更精确，仪器无需二次滤波器，峰位长时间保持稳定，无需频繁地用标准片校准仪器，客户可以视情况而定，不用购买标准片。

     博曼固定台多准直器镀层测厚仪还采用了良好的微聚焦X射线管，标定功率50瓦，设计功率300瓦，采用的铜管体，散热懒得好，使其延长光管的寿命。

       博曼固定台多准直器镀层测厚仪可提供多种规格的准直器：0.1、0.2、0.3、0.6、0.05*0.25mm等等，方便客户测量不同大小及不规则样品，另外可提供4种规格：0、0.1、0.5、1mm的一次滤波器。

           博曼固定台多准直器镀层测厚仪采用智能的紧凑式设计使得分析各种各样的应用变得更方便，在合理的价格范围内显著提升您的镀层产品质量控制。 

简单的设计、强大的分析能力 
快速、无损的分析 
可测Ti22-U92元素

同时可zui多分析5层镀层（4层镀层+基材层）

成份分析zui多可达25种元素 
基于基本参数法的镀层和成份分析方法 
仅需一根USB线与电脑连接 
快捷的面板控制按钮 
占用空间小、轻量化设计 

直观的用户界面 
zui大的分析灵活性，减少用户出错机会 
基于Net framework框架的Xralizer软件 
直观的图标引导用户界面 
强大的定性、无标样分析功能 
功能强大的标准片库 
用于快速分析的可定制快捷键 
灵活的数据显示与导出 
强大的编辑报告功能