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鼎极手持式X荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供准确、快速的分析。
鼎极手持式X荧光测厚仪现货供应应用领域
黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。
鼎极手持式X荧光测厚仪现货供应技术参数:
元素含量 分析指标 | 分析范围:100PPM-99.99% 准确度:相对误差5%以内 精密度:相对标准差5%以内 检出限:100PPM | 测试时间 | 镀层测厚:10-100秒 元素分析:60-300秒 |
X光管 | 50W(4-50KV 0 -1.0mA)标配 | 样品台 | 简易手动样品台,Z轴升降调节,操作简单 |
探测器 | 正比计数器 | 测试软件 | 基本参数法 |
滤光器 | 二次滤光 | 重量 | 100千克 |
准直器 | Standard configuration: 1 collimator (Ф3mm / Ф1mm / Ф0.5mm / Ф0.2mm /Ф0.1mm); Multi- collimators Options | 软件 | 镀层测厚软件,元素分析软件 |
样品观察 | CCD高精度彩色摄像头 | 配套 | 标准液体测量杯 |
对焦系统 | 镭射对焦 | 稳压系统 | UPS稳压电源 |
测量方向 | 从上向下 | 电脑 | 联想电脑 |
可测元素 | K到U | 打印机 | 彩色喷墨打印机 |
鼎极手持式X荧光测厚仪现货供应性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护