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E5250A 低漏电开关主机
面议E5263A 2 通道 IV 分析仪 电源监测单元(大功率 SMU 和中等功率 SMU)
面议E5260A IV 分析仪 8 插槽精密型测量主机
面议B2201A 14 通道低泄漏开关主机
面议B2200A fA 级低泄漏开关主机
面议PD1500A 动态功率器件分析仪双脉冲测试仪
面议B1506A 用于电路设计的功率器件分析仪曲线追踪仪
面议PD1000A 用于*建模的功率器件测量系统
面议B2911A 精密型电源测量单元,单通道、10fA、210V、3A 直流10.5A 脉冲
面议B2902A 精密型电源测量单元,双通道、100fA、210V、3A 直流10.5A 脉冲
面议B2901A 精密型电源测量单元,单通道、100fA、210V、3A 直流10.5A 脉冲
面议B1500A 半导体器件参数分析仪半导体表征系统主机
面议 去加重技术适合在以千兆位数据速率传输数字电信号的过程中使用。去加重是一个信号预失真,旨在补偿在 PC 电路板轨迹、背板或长电缆上以千兆位速率传输电信号时引起的信号质量下降。鉴于下一代串行总线标准的速度将超过 5 Gb/s,工程师将需要进行复杂的去加重和多分接有限脉冲响应(FIR)过滤。
许多常见的高速数字接口都使用去加重技术,例如 PCI Express®、SATA、USB3、QPI、、IEEE 802.3 背板(10GBASE-KR、40GBASE-KR4)。
全新 N4916B 去加重信号转换器使研发和测试工程师能够精确地仿真发射机去加重。
N4916B 可使用 1 个前光标(pre-cursor)和 2 个后光标(post-cursor)仿真发射机去加重,并独立调节高达 12.0 dB 的去加重电平。通过直流耦合,它能够容忍训练序列中常出现的非平衡码型流。当使用数据和时钟信号上的抖动进行激励时,N4916B 不会对抖动造成影响,能够仿真期望接收机会容忍的真实去加重和抖动条件。去加重还可补偿由电缆、夹具或测试仪中的测试电路板引起的失真,从而获得更精确的器件表征结果。
时钟倍频器选件可使用半速率时钟对器件进行误码计数和误码分析。要使用 J-BERT N4903A/B 的误码、眼图或抖动分析功能,则需要使用全速率时钟。