• 可靠、可重复地测量宽带隙（SiC、GaN）功率半导体动态特征
• 测量的特征包括开启、关闭、开关切换、反向恢复、栅极电荷以及其他许多特征
• 同时满足被测器件和用户对测试环境的要求
• 模块化平台可扩展、可升级，能够对所有功率器件进行测试

作为现成的测量解决方案，PD1500A 可以对宽带隙半导体进行可靠且可重复的测量。该平台不仅可以确保用户的安全性，还能够保护系统的测量硬件。

这种确保 DPT 结果可重复的能力依托于是德科技*的专业测量技术，例如在高频测试（GHz 级）、低泄漏（飞安级）和脉冲功率（1,500 A 电流、10 μs 分辨率）等方面的创新。这些创新使是德科技占据优势，可以有力地帮助您克服在动态功率半导体表征方面的挑战。

PD1500A 采用的均是标准的测量技术，例如探头补偿、偏置调整、偏移校正和共模噪声抑制。这些技术已在创新的测量拓扑和版图中使用。另外，我们专门为本系统开发了半自动校准例程（AutoCal），用于校正系统增益和偏置误差。该系统还使用去嵌入技术来补偿分流器中的电感寄生效应。

JEDEC 是为微电子行业开发开放标准和出版物的。JEDEC 委员会在广泛的技术领域着产业标准制定。

JEDEC 委员会：JC-70 宽带隙电力电子转换半导体

JEDEC 标准认识到为功率半导体行业制定 WBG 标准的需求十分迫切。2017 年 9 月，JC70 宽带隙电力电子转换半导体委员会成立，负责制定 GaN JC70.1 和 SiC JC-70.2 标准。每个领域都有三个任务组，专注于开发可靠性和鉴定程序、数据手册元素和参数，以及测试和表征方法。

是德科技积极参与这些标准的开发工作。

随着 JEDEC 继续定义 WBG 器件的动态测试，某些标准化测试开始出现。Keysight PD1500A DPT 确定了这些关键性能参数：

• 开机特征
• 关机特征
• 动态导通电阻
• 动态电流和电压
• 开关特征
• 反向恢复
• 栅极电荷
• 推导出的输出特征