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E5250A 低漏电开关主机
面议E5263A 2 通道 IV 分析仪 电源监测单元(大功率 SMU 和中等功率 SMU)
面议E5260A IV 分析仪 8 插槽精密型测量主机
面议B2201A 14 通道低泄漏开关主机
面议B2200A fA 级低泄漏开关主机
面议PD1500A 动态功率器件分析仪双脉冲测试仪
面议B1506A 用于电路设计的功率器件分析仪曲线追踪仪
面议PD1000A 用于*建模的功率器件测量系统
面议B2911A 精密型电源测量单元,单通道、10fA、210V、3A 直流10.5A 脉冲
面议B2902A 精密型电源测量单元,双通道、100fA、210V、3A 直流10.5A 脉冲
面议B2901A 精密型电源测量单元,单通道、100fA、210V、3A 直流10.5A 脉冲
面议B1500A 半导体器件参数分析仪半导体表征系统主机
面议M8030A 将 J-BERT M8020A 扩展为一款真正的多通道比特误码率测试仪,它支持多达 10 个码型发生器和 10 个误码检测器(ED),能够执行包括 PCIe 和 PON 在内的各种多通道应用测试。无论您何时需要进行多通道测量,以提高测试吞吐量或加速在真实应用条件下的测试,M8030A 多通道比特误码率测试仪都是的工具。
通过在 M8020A 和 M8030A BERT 配置中结合使用 M8041A 和 M8051A 模块,您可以随时添加模块来满足新增的需求,从而充分保护您的投资。
M8030A 多通道比特误码率测试仪以研发和测试工程师为设计对象,帮助他们表征和验收消费类产品、计算机和通信行业内具有多个高达 16 Gb/s I/O 端口的芯片、器件、电路板及系统。典型应用包括 PCIe 多通道测试、无源光网络(PON)多个光网元(ONU)系统测试,以及 XAUI 和 GAUI 多通道测试。