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3D-tracking 单颗粒三维跟踪及纳米成像模块
面议Alba-STED FLIM/FFS 激光扫描荧光寿命成像系统
面议超快成像拉曼光谱仪-XploRA PLUS XS
面议HORIBA 激光散射粒度分布分析仪
面议HORIBA LA960 激光粒度仪
面议多功能拉曼及成像光谱仪 LabRAM XploRA INV
面议HORIBA 高分辨拉曼光谱仪 HR Evolution
面议Orient KOJI 积分球荧光光谱仪
面议Orient KOJI 300℃高温荧光(热猝灭)分析仪
面议HORIBA 三维荧光/紫外吸收光谱仪
面议光谱测试400MPa高压液体仓
面议上转换同步信号触发模块
面议仪器简介:
20多年技术积累和发展的结晶,是一款高准确性、高灵敏度、高稳定性的经典椭偏机型。即使在透明的基底上也能对超薄膜进行确的测量。采用PEM相位调制技术,与机械旋转部件技术相比,能提供更好的稳定性和信噪比。
技术参数:
可选光谱范围:
* UVISEL Extended Range(190nm -2100 nm)
* UVISEL NIR (250 nm -2100 nm )
* UVISEL VIS (210 nm -880 nm )
* UVISEL FUV(190 nm -880 nm )
* UVISEL VUV(142 nm -880 nm )
* 多种实用微光斑尺寸选项
* 探测器:分别针对紫外,可见和近红外提供优化的PMT和IGA探测器
* 自动样品台尺寸:多种样品台可选
* 自动量角器:变角范围35° - 90°,全自动调整,最小步长0.01°
主要特点:
* 50KHz 高频PEM 相调制技术,测量光路中无运动部件
* 具备超薄膜所需的测量精度,超厚膜所需的高光谱分辨率
* 具有毫秒级超快动态采集模式,可用于在线实时监测
* 自动平台样品扫描成像、变温台、电化学反应池、液体池、密封池等多种附件
* 配置灵活