品牌
其他厂商性质
所在地
3D-tracking 单颗粒三维跟踪及纳米成像模块
面议Alba-STED FLIM/FFS 激光扫描荧光寿命成像系统
面议超快成像拉曼光谱仪-XploRA PLUS XS
面议多功能拉曼及成像光谱仪 LabRAM XploRA INV
面议HORIBA 高分辨拉曼光谱仪 HR Evolution
面议Orient KOJI 积分球荧光光谱仪
面议Orient KOJI 300℃高温荧光(热猝灭)分析仪
面议HORIBA 三维荧光/紫外吸收光谱仪
面议光谱测试400MPa高压液体仓
面议上转换同步信号触发模块
面议Hitachi CDSEM S9380 Retrofit
面议X射线分析显微镜
面议HORIBA LA-300 激光粒度分布仪
LA-300型激光散射粒度分布分析仪是一种基于米氏散射理论的激光粒度分布仪,米氏散射理论是严格按照麦克斯韦电磁场理论的数学解得到的经典理论,是目前激光粒度仪所采用的计算方法中最严谨的一种。因此采用这种计算方法为仪器给出可靠的数据结果作了原理上的保证。同时,堀场制作所以其的技术和多年开发激光粒度分布仪的经验保证了LA-300型激光粒度分布仪的高精度,高分辨率,低维护性,易操作性及其他一系列优异的性能。
体积轻巧方便
Horiba 公司在保证高质量的前提下,成功地将仪器的体积缩小了30%,使得LA-300体积轻巧,仅有25公斤,真正满足实验室空间日益紧张这种现状,同时也更适用于各种复杂实验室的繁重工作。
测量快速准确
LA-300 在保证能够检测不同类型物质的同时,还采用了特殊检测手段,极大地缩短了检测时间,从测量开始仅仅需要20秒的时间就可得出精确的结果。此外,仪器还设置了安全操作模式,保证在检测时使用的方法正确。内置自动准直功能使LA-300具有的高重复性,这一性能保证了系统操作条件的恒定与一致。
使用节省人工
LA-300 的精确高效并非意味着操作的复杂,相反在设计上力求操作维护简单易行。首先在软件设计上提供简便操作和维护的界面,设置了一系列能限度节省人功的设计。尤其是图表用户界面能够给您提供清晰准确的对话框,用户只按您所需的指令键和一系列快捷键完成常用操作。
自动测量功能
LA-300的操作控制全部通过计算机来进行,而且还具有*的学习功能。利用这一功能,用户可将日常例行检测的条件和操作程序以简单的语言编成程序储存,检测时用户只需简单地按一个键,仪器就可按照事先编好的程序自动进行检测。这一功能对于选用自动取样器进行连续检测的用户更有效,其内置自动排序软件,保证仪器的高重复性 。此外仪器还带自动的校正按键,采用多维自动搜寻定位系统以决定光电二极管、光路系统是否重新定位并自动完成校正。
操作安全保密
LA-300 的操作还具有保密性,其软件能够帮助项目监管系统按照用户确定的路径进行仪器的操作。项目监管系统可以识别用户所属范围和常用用户的个人身份,用户登陆使用户姓名及密码,实现了操作的保密性。
样品分散均匀
LA-300样品分散系统除机械搅拌外还采用15W, 28KHz超声波装置,确保了样品能够均匀分散。 大流量离心循环泵(5.5L/min)除保证高速稳定循环及样品悬浮的均匀外,同时由于流速高,减少了粉尘堆积,因而免去了泵的频繁更换。LA-300的分散池(包括机械搅拌装置)和超声波分散头及循环管路全部采用内置方式,这使操作的简便性和稳定性大大提高,也使维护量大大降低。另外,仪器所有与液体接触的部分均使用耐化学腐蚀和耐锈蚀的材料制造,确保低维护。
软件功能强大
仪器软件采用windows98/95界面,数据处理可以和word, excel等应用软件互通。并且可以根据用户的需求,打印不同形式的报告格式。仪器的强大计算功能是LA-300 的品质之一, LA-300除了给出样品的粒度分布的数据和曲线,积分曲线,MEDIAN值及MEAN值外,还能给出用户感兴趣的10个粒径的积累分布和10个感兴趣的积累分布所对应的粒径值,10个感兴趣的粒径和10个感兴趣的积累分布只需用户在显示条件中输入即可。一次检测结束后用户可根据需要得到基于粒子体积,面积,粒径和数量四种不同的分布结果,而这四种分布结果的取得也只需在显示条件中做4种简单的选择即可,并不需要做4次检测。另外一个特殊的功能是用户可将几次测试的分布图同时调入一个画面并以不同的颜色显示,这样用户可以对几次测试的结果作对比分析。
除以上功能外,LA-300还具有其它丰富的软件功能。实时显示功能使用户能够在检测的同时即能看到分布曲线随检测的进行而变化的过程,从而判断检测条件是否合适和其它影响因素的作用;打印格式预设功能可以使用户根据自己的喜好改变数据和图形的显示及打印格式;保密功能便于用户的内部管理;多达300个检测结果的三维显示使图形的显示更直观,而且还包括等高线显示功能。
测量范围广
LA-300采用*的长寿命半导体激光光源和大直径透镜系统,配合堀场专有的高性能检测器,使得仪器的测量粒径达到0.1-600um大范围的颗粒分布而无须任何光学调整。如此大的测量范围使用户可以进行更深层次的基础研究、产品质量控制等。
高性能检测器
测量部分Horiba公司使用了特殊的650nm 的激光器,6个宽角度的侧方和后方检测器和一个36通道的环状硅光矩阵光电二极管检测靶,可同时处理42个数据信号。通过计算散射光的密度转换成的电讯号,来确定粒子的分布,因此这种基于米氏理论的测量方式可以保证所得到的数据的准确性。