温度强迫系统接触式高低温测试 ATC840

ThermoTST ATC840是一台精密的接触式高低温冲击机，具有更广泛的温度范围-45℃到+200℃，提供了很强的温度转换测试能力。

温度强迫系统接触式高低温测试 ATC840

ThermoTST ATC840通过测试头与DUT之间直接接触，将DUT的温度(壳温或者结温)调整到目标温度点进行相应的性能测试。同时适用于已焊接的芯片和使用socket的芯片，可以真正做到只控制待测芯片温度而不影响外围电路，排除外围电路引起的不确定性。

温度强迫系统接触式高低温测试 ATC840 特点

有效温度范围，-45℃至+200℃

温度稳定性±0.5℃

触摸屏操作，人机交互界面

支持DUT温度控制

桌面设计，低噪音、低震动、低环境散热

温度波动小

低温环境测试无冷凝

应用

适用于IC特性、测试和失效分析：

ATE, SLT和工作台

高低温测试箱/低温冷却机代换

OEM集成

接触式高低温设备是针对芯片可靠性测试而研发的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统气流式高低温设备（热流仪、温箱等）相比具有升降温效率高，操作简单方便，体积小巧，噪音低等特点。

优点

• 快速温度转换循环。

• 结构精密、减少占地面积的要求

• 温控精度±1℃

• 不用外置冷水机和压缩空气

• 结温控制

• 噪音较低

• 局部测试

• 在线测试