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热流罩 冷热循环冲击气流测试机
¥11111高低温冲击设备ThermoTST热流仪
¥11111芯片动态老化测试系统Small Burn-in Tester
¥11111Small Burn-in Tester芯片老化测试
¥11111电子元器件动态老化测试系统
¥11111芯片动态老化测试系统
¥11111芯片老化测试Small Burn-in Tester
¥11111电阻电容温度系数测试系统
¥11111电阻 器件温度系数测试系统
¥11111导通电阻评估系统 冷热冲击试验箱
¥11111探针台 维修升级改造服务
¥10000探针台CHUCK系统维修升级改造
¥10000Intest
inTEST 高低温设备维修高低温试验箱
自动升降温:冷冻机特殊设计,制冷剂不含氟利昂、安全无毒、不易燃,有效保护环境;不需要液态氮气或液态二氧化碳冷却
旋钮式控制台
温度显示精度:±1℃(通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)
过热温度保护:出厂设置温度 +230°C,操作员可根据实际需要设置高低温限制点。
加热模式下,冷冻机可切换成待机模式,以减少电力消耗
大气流量输出,变温速率快,节省操作时间,热流罩提供局限性的温度测试环境,特别适合温度冲击测试;设计防止水气在DUT上凝结
与传统高低温测试箱、温湿度测试箱对比,inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势:
1、变温速率更快
2、温控精度:±1℃
3、即时监测待测元件真实温度,可随时调整冲击气流温度
4、针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC(模组),可单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件
5、对测试机平台load board上的IC进行温度回圈 / 冲击;传统高低温箱无法针对此类测试。
6、对整块积体电路板提供精确且快速的环境温度。
inTEST 高低温设备维修高低温试验箱
温度冲击测试方法:
inTEST Temptronic 高低温冲击测试机提供两种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode
通过热流罩或测试腔将被测 IC与周边环境隔离,然后对IC 回圈喷射冷热气流,使IC温度短时间发生急剧变化,从而完成温度回圈和温度冲击的测试。