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高低温冲击气流仪  IC芯片温度冲击测试机 应用：

特性分析、高低温温变测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验，如：芯片、微电子器件、集成电路（SOC、FPGA、PLD、MCU、ADC/DAC、DSP等）闪存Flash、UFS、eMMCPCBs、MCMs、MEMS、IGBT、传感器、小型模块组件光通讯（如：收发器 Transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等）其它电子行业、航空航天新材料

特点：

· 温度转换速率快，-5℃至+125℃之间转换仅需10秒

· 广泛的温度范围，- 25 ℃至+225℃

· 触摸屏操作，人机交互界面

· 快速DUT温度稳定时间

· 温控精度±1℃，显示精度±0.1℃

· 紧凑的设计，限度地减少占地面积的要求

·*设计，满足工作环境的舒适度。

测试标准：

· 满足美用标准MIL体系测试标准

· 满足国内元件GJB体系测试标准

· 满足JEDEC测试要求

高低温冲击气流仪  IC芯片温度冲击测试机

服务的标准

速度：1小时内响应，24小时内提供实施方案。

专业：多名工程师与热流仪Temperature Cycling System相伴10多年。

维修：原厂标准服务。

料件：原厂品牌料件。

保障：提供交换式维修。

信息：设备档案更新与备份，做客户设备的管家。

我们的专业团队拥有数十年的行业经验，长期与国内企业紧密合作。我们提供全国范围内的InTest高低温气流循环冲击系统设备故障的快速支持，并可在我们的工厂进行高标准的维修、保养及改造（重建）服务。

我们的专业知识和经验意味着我们能专业的为大多数热流仪Temperature Cycling System应用与维修提供全面的建议和支持

通过设计和改造的系统（根据现场环境定制或配置）

我们可以提供一个完整的系统解决方案